

产品型号:TEKHNE TK-100
更新时间:2026-09-03简要描述:TEKHNE TK-100 半导体/食品行业露点监控 NIST露点仪 采用薄膜陶瓷传感器技术,露点测量范围-100~+20℃,精度±2℃,响应速度快,传感器全互换。日本国内开发、制造、校准,在-70℃至-10℃低露点领域 获JCSS校准资质。
| 品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 仪器原理 | 电传感器式 | 产品种类 | 在线 |
| 应用领域 | 食品/农产品,生物产业,综合,半导体 |

グローブボックス(手套箱)内的露点管理
ドライヤー(干燥机)的露点检测
熱処理炉(热处理炉)内气氛管理
クリーンルーム・ドライルーム(洁净室/干燥室)的露点管理
ガスの純度管理(气体纯度管理)
天然ガス(天然气)水分管理
半導体製造装置(半导体制造设备)
有機EL製造(有机EL制造)
TEKHNE TK-100 半导体/食品行业露点监控 NIST露点仪 采用薄膜陶瓷传感器技术,露点测量范围-100~+20℃,精度±2℃,响应速度快,传感器全互换。日本国内开发、制造、校准,在-70℃至-10℃低露点领域 获JCSS校准资质。
TEKHNE TK-100 半导体/食品行业露点监控 NIST露点仪 采用薄膜陶瓷传感器技术,露点测量范围-100~+20℃,精度±2℃,响应速度快,传感器全互换。日本国内开发、制造、校准,在-70℃至-10℃低露点领域 获JCSS校准资质。