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产品分类技术文章/ article
在半导体晶圆、光掩膜、光学玻璃基板、光学镜片制造工序中，微米级划痕、表面微粒、雾斑、清洗残留污渍、亚表面缺陷依靠普通照明很难识别，极易造成漏检。日本S-VANS...
在半导体晶圆、LCD面板、MEMS微器件制造工艺中，微米、纳米级微小颗粒污染，是直接影响产品良率的关键难题。传统低频超声波清洗应用广泛，但面对超薄衬底、精细微结构元器件时，剧烈的清洗作用力极易造成基材表面蚀损、结构破坏。在此背景下，兆声波（...
光掩膜作为半导体光刻工艺的核心母版，基板表面微米级细微划痕、清洗残留微粒、雾斑缺陷会直接造成晶圆图形转移不良，引发批量报废。常规室内照明、普通LED目视光源照度不足、光谱单一，浅划痕对比度极低，极易出现漏检问题。在光掩膜来料检验、清洗后巡检...
在半导体、精密光学、显示面板制造领域，透明基材、超抛光工件表面微米级划痕、内部气泡、微小异物、雾斑等缺陷，依靠普通室内照明、常规LED光源很难被肉眼识别，极易造成漏检，直接影响成品良率。日本INTECS推出的UIH-3D超高辉度照明装置，作...
高亮度卤素灯光源装置和高亮度LED光源装置是山田光学工業株式会社生产的产品，属于宏观观察用照明装置。该产品用于半导体晶圆（ウェハー）和液晶基板加工过程中，对最终仕上面进行异物、划痕、研磨不均、雾状浑浊、滑痕等各种缺陷的检测。其照度达到太阳光...
在精密制造的质检环节里，薄膜、涂层的微小不均缺陷一直是行业公的认的检测难题：传统白色LED光源无法生成有效干涉条纹，难以将细微的涂布差异可视化；老旧的三波长荧光灯、钠灯不仅设备老化维护麻烦，成像清晰度也早已跟不上当下的高精度质检要求，很容易...
医药包装产线的质检要求特别严：独立包装的药片铝塑膜，裁切边缘如果有毛边、缺口，或者上面的透气小孔打歪、漏打，都属于不合格品，流到市场里会有合规风险。普通小尺寸光源照不全整个药包，拼接打光又会出现明暗交界线，边缘缺陷很容易被漏掉。这款TH2-...
电子元器件质检工位最容易踩坑：三极管这类带引脚的小零件，普通打光方式要么把引脚照得反光发白，要么把零件的塑料外壳阴影拍得黑乎乎，表面的小裂纹、引脚的轻微变形根本挑不出来，流到下游组装环节就会出大问题。这款TH2-63X60SW背光成像光源专...
很多饮料厂、日化包装厂的流水线质检都遇到过头疼问题：瓶子跑得太快，普通光源拍出来的液面糊成一团，瓶身上的生产日期、批次号喷码要么反光看不清，要么边缘拖影识别不准，经常把合格产品误判成次品，白白浪费产能。这款TH2-140X105SW工业成像...
在半导体晶圆高精度检测场景中，高速运动的晶圆产线对光源的同步性、亮度可控性提出了非常高要求，CCSPF系列作为超亮频闪光源专用控制电源，凭借精准的时序控制能力，为晶圆外观缺陷检测、显微成像等环节提供了稳定可靠的超高速频闪光源解决方案。查看店...
LIGHTTESTSL-3570D是一款专为工业环境设计的高性能HID手持式检查灯。它凭借强的大的光源输出和独特的光学特性，主要用于让空气中肉眼难以察觉的悬浮微尘“显形”，是涂装、半导体及精密制造行业进行环境洁净度验证的强力工具。核心功能与...
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