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产品型号：PA-300系列
更新时间：2023-05-20简要描述：photonic-lattice二维双折射评价系统PA-300系列这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备，它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。它是一种可以在线安装的类型，光源和测量台可以分开。
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 环保,化工,能源,电子,综合 |
photonic-lattice二维双折射评价系统PA-300系列
photonic-lattice二维双折射评价系统PA-300系列
PA系列是测量范围为0～130nm的低相位差装置，以500万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
适用于测量相位差较小的物体，如玻璃制品、镜片等。
从显微镜尺寸到大尺寸（约 50 cm），我们备有与测量对象相对应的产品系列
这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备，它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
一种可以在显微镜视野中测量双折射的类型。
附带的显微镜可以从奥林巴斯或尼康中选择。
PA-micro-S 是没有显微镜的只有测量头的产品。
这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备，它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
它是一种可以在线安装的类型，光源和测量台可以分开。
这是一款测量范围为 0 至 130 nm 的低相位差设备，它以 500 万像素的高分辨率高速测量双折射/相位差的分布。
它是一种可以在线安装的类型，光源和测量台可以分开。
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