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美国microtrac粒径分析仪

  • 产品型号:S3500
  • 更新时间:2024-11-06

简要描述:美国microtrac粒径分析仪S3500
是第一个使用三个精确放置的红色激光二极管来精确描述颗粒的粒度分析仪,专的利的三激光系统为各种应用提供了精确,可靠和可重复的粒度分析,利用已证明的理论的Mie补偿球形粒子和专的利原理的改进的Mie计算非球形粒子。S3500测量的粒度从0.02到2800µm
性能指标

产品详情
品牌其他品牌产地类别进口
应用领域环保,化工,能源,电子,综合

美国microtrac粒径分析仪S3500 

是第一个使用三个精确放置的红色激光二极管来精确描述颗粒的粒度分析仪,专的利的三激光系统为各种应用提供了精确,可靠和可重复的粒度分析,利用已证明的理论的Mie补偿球形粒子和专的利原理的改进的Mie计算非球形粒子。S3500测量的粒度从0.02到2800µm

性能指标

1.三激光,红色,多探测器,多角度光学系统

2.对非球形粒子采用米氏补偿和修正米氏计算的算法

3.测量范围从0.02到2800µm

4.干湿法测量

5.封闭的光路确保光学元件的完的全保护,很少或没6.6有操作员干预

优点

1.利用三种红色激光器,增加了测量范围,为您提供了对广泛样本进行分析的灵活性

2.专的利改进的Mie计算允许用户精确测量复杂的粒子,而其他粒子分析仪很难准确地描述

3.从湿测量到干测量的无缝过渡减少了停机时间

4.固定探测器坚固耐用,并确保正确的定位

5.设备占地空间小,节省实验室的宝贵空间

美国microtrac粒径分析仪S3500 

是第一个使用三个精确放置的红色激光二极管来精确描述颗粒的粒度分析仪,专的利的三激光系统为各种应用提供了精确,可靠和可重复的粒度分析,利用已证明的理论的Mie补偿球形粒子和专的利原理的改进的Mie计算非球形粒子。S3500测量的粒度从0.02到2800µm

性能指标

1.三激光,红色,多探测器,多角度光学系统

2.对非球形粒子采用米氏补偿和修正米氏计算的算法

3.测量范围从0.02到2800µm

4.干湿法测量

5.封闭的光路确保光学元件的完的全保护,很少或没6.6有操作员干预

优点

1.利用三种红色激光器,增加了测量范围,为您提供了对广泛样本进行分析的灵活性

2.专的利改进的Mie计算允许用户精确测量复杂的粒子,而其他粒子分析仪很难准确地描述

3.从湿测量到干测量的无缝过渡减少了停机时间

4.固定探测器坚固耐用,并确保正确的定位

5.设备占地空间小,节省实验室的宝贵空间

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