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半导体晶圆缺陷检测LED照明光源线条灯

  • 产品型号:KDN KDPL2- △ 100 *
  • 更新时间:2026-09-03

简要描述:KDN KDPL2- △ 100 *半导体晶圆缺陷检测LED照明光源线条灯 专为机器视觉图像处理设计,提供疑似平行光、扩散光、均一照射光、狭缝光五种光型及红绿蓝白四色可选,照射面长度100~3000mm覆盖广泛。适用于半导体/液晶面板检测、金属表面缺陷检测、包装材料印刷检测、电子元器件尺寸测量等工业自动化视觉检测领域

产品详情
品牌其他品牌价格区间面议
照射方式外照式光源种类其他光源
应用领域食品/农产品,包装/造纸/印刷,汽车及零部件,综合,半导体
京都電機器株式会社(Kyoto Denkiki Co., Ltd.)画像処理用LED照明(机器视觉用LED照明),属于京都電機器オプトエレクトロニクス事業的核心产品线。

半导体晶圆缺陷检测LED照明光源线条灯

核心卖点

業界最高クラスの光量、ローコストを実現。(实现业界最的高级别的光量与低成本)
该系列产品在保持高亮度的同时兼顾经济性,适合对亮度要求较高的机器视觉检测场景。


产品系列(ラインナップ)

照射面长度型号示例适用电源
100mm ~ 1100mmKDPL2-△100 ~ △1100LLA-300
1200mm ~ 2100mmKDPL2-△1200 ~ △2100LLA-600
2200mm ~ 3000mmKDPL2-△2200 ~ △3000LLA-1500
  • 照射面长度覆盖 100mm 至 3000mm,还可根据需求定制更长规格

  • 附标配点灯电缆(标准长度 2m)


照射面仕様(5种光型可选)

型号后缀光型特点
KDPL2-L疑似平行光接近平行的高方向性光束
KDPL2-LP疑似平行光 + 光学シート在平行光基础上增加光学片,进一步提升均匀性
KDPL2-D拡散光广角度柔和散射光,适合大面积均匀照明
KDPL2-LK均一照射光高均匀性照明,适合对亮度一致性要求高的检测
KDPL2-SLスリット光(擬似レーザー光)狭缝光(类激光光),适合线扫描检测











发光色(4色可选)

  • R(Red 红色)

  • G(Green 绿色)

  • B(Blue 蓝色)

  • W(White 白色)

可根据被检测物体的材质和检测目的,灵活选择最佳波长。


适用场景

作为机器视觉(画像処理)专用的线光源,KDPL2 series 广泛应用于:
  • 半导体/液晶面板检测

  • 金属表面缺陷检测

  • 包装材料印刷检测

  • 电子元器件尺寸测量

  • 各种工业自动化视觉检测场景


配套产品

  • 专用电源:LLA-300 / LLA-600 / LLA-1500

  • 其他周边产品:扩散板、偏光板、延长电缆等



KDN KDPL2- △ 100 *半导体晶圆缺陷检测LED照明光源线条灯 专为机器视觉图像处理设计,提供疑似平行光、扩散光、均一照射光、狭缝光五种光型及红绿蓝白四色可选,照射面长度100~3000mm覆盖广泛。适用于半导体/液晶面板检测、金属表面缺陷检测、包装材料印刷检测、电子元器件尺寸测量等工业自动化视觉检测领域

KDN KDPL2- △ 100 *半导体晶圆缺陷检测LED照明光源线条灯 专为机器视觉图像处理设计,提供疑似平行光、扩散光、均一照射光、狭缝光五种光型及红绿蓝白四色可选,照射面长度100~3000mm覆盖广泛。适用于半导体/液晶面板检测、金属表面缺陷检测、包装材料印刷检测、电子元器件尺寸测量等工业自动化视觉检测领域







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