日本INTECS超高輝度照明光源灯UIH-1C晶圆用日本INTECS超高輝度照明装置UIH-1C 晶圆用，UIH-2D / UIH-，该设备主要用于半导体晶圆、掩模玻璃、光学部件等精密元件的表面瑕疵（如雾状缺陷/ヘイズ）检测。

山田光学 350W卤素灯光源 250W卤素光源 JCR15V150W ELC24V250W yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

yamada山田光学40万Lx卤素冷光源瑕疵检测灯 YP系列 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

山田光学 外观显微观察表面检查灯 亮度可调 双光源 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

山田光学 8英寸晶圆抛光缺陷检查灯＜0.2μm YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

YAMADA KOGAKU山田光学 高功率检查灯 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

山田光学半导体晶圆划痕抛光不均雾状检查灯 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

山田光学 晶圆硅片碳化硅φ30-60异物检查灯 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

山田光学 黄光白光 双光源卤素检查灯 YP-150I/YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

日本山田光学YAMADA高照度卤素强光灯 光源 YP-150I/YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。