DAICO黄光手电筒 光刻胶不曝光 半导体Fab用 Labo-Meister DHL608，适用于光刻环境中的作业，如高的端的曝光机、涂布机及显影设备等，配备高亮度黄色光源（用于光刻与维护）。通过滤除光刻胶的感光波长范围进行发光，彻的底的消除白光照射带来的感光风险，显的著的提升作业效率。

DAICO DHL608黄光灯 黄光室/光刻胶作业用，适用于光刻环境中的作业，如高的端的曝光机、涂布机及显影设备等，配备高亮度黄色光源（用于光刻与维护）。通过滤除光刻胶的感光波长范围进行发光，彻的底的消除白光照射带来的感光风险，显的著的提升作业效率。

DAICO半导体洁净室点检维护灯 608nm 光源 608nm DHL608 适用于光刻环境中的作业，如高的端的曝光机、涂布机及显影设备等，配备高亮度黄色光源（用于光刻与维护）。通过滤除光刻胶的感光波长范围进行发光，彻的底的消除白光照射带来的感光风险，显的著的提升作业效率。

光源DAICO大兴制作所 半导体光刻黄光手电灯 日本DAICO大兴制作所 半导体光刻用黄光手电 DHL608 适用于光刻环境中的作业，如高的端的曝光机、涂布机及显影设备等，配备高亮度黄色光源（用于光刻与维护）。通过滤除光刻胶的感光波长范围进行发光，彻的底的消除白光照射带来的感光风险，提升作业效率。

日本SIGMAKOKI LED照明 光源 导光管 LLS-W 寿命长、功耗低，降低了运行成本，并提供与金属卤化物光源相当的亮度。 ◦长寿命：30,000小时以上*1

SELONE N是一款专为精密表面目视检查设计的超高照度LED照明装置。它主要用于晶圆、镜头、玻璃基板等微小缺陷的高亮度检测。 适用对象包括半导体制造、光学元件加工、TFT面板及触摸屏生产等行业的质量检测人员。其高照度、长寿命和灵活调节特性，使其成为高精度工业检测中不可少的辅助照明设备，确保产品表面质量可控。LED照明 半导体晶圆玻璃基板表面目视检查用

微粒子可视化LED光源 气流分析洁净室环境用 SNK ViEST Parallel Eye M 这款微粒子可视化用LED光源，主要用于清晰观察悬浮微粒和气流的动态。它适用于制造现场、研究设施等需要评估洁净室环境、进行气流分析或粉尘控制的行业。

山田光学 LED光源 晶圆异物划痕雾状检查灯YP-250IL / yamada-opt，山田光学 YP-250IL 为高照度 LED 检测光源，可清晰检出细微划痕、雾斑、颗粒、抛光不良等微小表面缺陷，发热量低、寿命长久，适配人工质检与 AOI 自动化设备。广泛用于半导体硅片、FPD 玻璃基板、光学镜片、精密抛光模具、镀膜薄膜工件检测，适配无尘车间量产抽检、成品终检、实验室样品观测场景。

细微划痕雾斑颗粒抛光不良 人工质检灯 LED，山田光学YP-250IL主要用于半导体晶圆和液晶基板的表面宏观缺陷检测，凭借高达400,000 Lx的照度，能清晰识别划痕、异物和研磨不均等微小瑕疵。 适用行业以半导体制造和液晶面板生产为主，同时也适用于精密电子元器件、光学元件等需要高亮度、长寿命照明的工业自动化检测场景。其核心价值在于用LED技术替代短命卤素灯，大幅降低产线停机维护成本

sutter荧光光源Lambda FLED 我们的双通道 Lambda FLED 选项将两个高功率 LED 组合成一个光路。FLED-DC 允许使用两个通道进行荧光成像。两个通道均由单独的 FLED 控制器驱动，并且可以通过 TTL 信号单独触发。对于设置中两个以上的 LED，请参阅我们的 Lambda 421 或 Lambda OBC。