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TOPCON 半导体光刻UV检测 辐照度测量光源

  • 产品型号:TechnoOptis UVR-T2
  • 更新时间:2026-09-05

简要描述:TOPCON TECHNOHOUSE UVR-T2 工业紫外检测仪 TOPCON 半导体光刻UV检测 辐照度测量光源,用于精确测量紫外光源的辐照度与累积光量,适用于半导体、FPD、PCB等光刻工艺的紫外灯维护管理,以及UV固化、UV消毒杀菌、激光加工、电子元件生产等行业的紫外光源检测与设备维护管理。

产品详情
品牌其他品牌产地类别进口
应用领域环保,化工,能源,电子/电池,综合
TOPCON TECHNOHOUSE CORPORATION(原 TOPCON TECHNOHOUSE)工业级紫外检测仪(UVR系列)

TOPCON 半导体光刻UV检测 辐照度测量光源

产品概述

UVR-T2 是一款专为工业用途设计的紫外检测仪,适用于管理紫外光灯在以下场景中的照射量:
  • 电子元件的天花板与粘接工艺

  • PCB 生产线的印刷、干燥和安装

  • 各类领域的灭菌工艺

  • 半导体、FPD(平板显示器)、印刷电路板的曝光工艺中的紫外灯维护管理

通过测量结果,用户可优化传送带速度、灯强度分布和灯泡更换周期,从而提升产品良率。


核心特点

  1. 金属机身:配备隔热罩,确保稳定测量

  2. 多种测量模式:支持实时照度测量、峰值数据测量、累积光量测量

  3. 延长电缆:主机与探测器可分离,实现远距离测量

  4. 数据存储与通信:内置存储器,支持 RS-232C 通信和模拟输出

  5. USB 总线供电:通过 USB 直接供电,使用便捷

  6. 标准配套软件:支持指定次数测量、任意间隔测量、测量数据的数值/图形显示及文件输出


主要应用领域

  • 各类紫外照射设备的灯泡维护管理

  • 步进式光刻机、对准器、激光直写设备

  • 激光加工

  • UV 消毒/杀菌/净化

  • UV 固化/清洗

  • UV 表面处理

  • 紫外光源研发部门

  • 紫外灯出厂检验生产线

  • 电子元件


技术规格

项目说明
探测器单元UD-T25T2 / UD-T36T2 / UD-T40T2 / UD-T3040T2(4种可选)
探测器元件硅光电二极管(4款通用)
探测器窗口直径φ5mm(UD-T25T2)/ φ3mm(其余3款)
测量波长范围230~280nm / 300~390nm / 350~490nm / 290~430nm
峰值灵敏度波长约255nm / 约355nm / 约410nm / —
辐照度显示范围3个量程可选(最高可达 3000 mW/cm²)
积分辐照度范围3个量程可选(最高可达 99999.0 mJ/cm²)
模拟输出辐照度 1mV / 模拟电压 0~2.0V
采样时间50Hz→10ms / 60Hz→8.33ms
校准精度±2%
线性度±3%
接口USB 2.0(USB A → USB Micro B)
电源LR03(碱性干电池)×3节 / USB总线供电
工作条件温度 10~60°C / 湿度 85% R.H. 以下(无凝露)
尺寸(W×D×H)75×201×16 mm
重量约 320g(含电池,不含隔热罩)


标准配件

  • 延长单元:ZV-48(2m)


总结

UVR-T2 是一款功能全面、精度可靠的工业级紫外检测仪,拥有 4 种探测器单元可选,覆盖从紫外短波到可见光宽范围的测量需求。其金属机身设计、多种测量模式、USB 供电和配套软件,使其非常适合在半导体、FPD、PCB 等精密制造领域进行紫外光源的管理和维护



TOPCON TECHNOHOUSE UVR-T2 工业紫外检测仪 TOPCON 半导体光刻UV检测 辐照度测量光源,用于精确测量紫外光源的辐照度与累积光量,适用于半导体、FPD、PCB等光刻工艺的紫外灯维护管理,以及UV固化、UV消毒杀菌、激光加工、电子元件生产等行业的紫外光源检测与设备维护管理。

TOPCON TECHNOHOUSE UVR-T2 工业紫外检测仪 TOPCON 半导体光刻UV检测 辐照度测量光源,用于精确测量紫外光源的辐照度与累积光量,适用于半导体、FPD、PCB等光刻工艺的紫外灯维护管理,以及UV固化、UV消毒杀菌、激光加工、电子元件生产等行业的紫外光源检测与设备维护管理。





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