

产品型号:TechnoOptis UVR-T2
更新时间:2026-09-05简要描述:TOPCON TECHNOHOUSE UVR-T2 工业紫外检测仪 TOPCON 半导体光刻UV检测 辐照度测量光源,用于精确测量紫外光源的辐照度与累积光量,适用于半导体、FPD、PCB等光刻工艺的紫外灯维护管理,以及UV固化、UV消毒杀菌、激光加工、电子元件生产等行业的紫外光源检测与设备维护管理。
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 环保,化工,能源,电子/电池,综合 |

电子元件的天花板与粘接工艺
PCB 生产线的印刷、干燥和安装
各类领域的灭菌工艺
半导体、FPD(平板显示器)、印刷电路板的曝光工艺中的紫外灯维护管理
金属机身:配备隔热罩,确保稳定测量
多种测量模式:支持实时照度测量、峰值数据测量、累积光量测量
延长电缆:主机与探测器可分离,实现远距离测量
数据存储与通信:内置存储器,支持 RS-232C 通信和模拟输出
USB 总线供电:通过 USB 直接供电,使用便捷
标准配套软件:支持指定次数测量、任意间隔测量、测量数据的数值/图形显示及文件输出
各类紫外照射设备的灯泡维护管理
步进式光刻机、对准器、激光直写设备
激光加工
UV 消毒/杀菌/净化
UV 固化/清洗
UV 表面处理
紫外光源研发部门
紫外灯出厂检验生产线
电子元件
延长单元:ZV-48(2m)
TOPCON TECHNOHOUSE UVR-T2 工业紫外检测仪 TOPCON 半导体光刻UV检测 辐照度测量光源,用于精确测量紫外光源的辐照度与累积光量,适用于半导体、FPD、PCB等光刻工艺的紫外灯维护管理,以及UV固化、UV消毒杀菌、激光加工、电子元件生产等行业的紫外光源检测与设备维护管理。
TOPCON TECHNOHOUSE UVR-T2 工业紫外检测仪 TOPCON 半导体光刻UV检测 辐照度测量光源,用于精确测量紫外光源的辐照度与累积光量,适用于半导体、FPD、PCB等光刻工艺的紫外灯维护管理,以及UV固化、UV消毒杀菌、激光加工、电子元件生产等行业的紫外光源检测与设备维护管理。