


产品型号:KATO KOKEN PIV Laser GⅡ
更新时间:2026-08-19简要描述:KATO KOKEN PIV Laser GⅡ 520nm半导体片光源 流体可视化PIV激光光源 该 PIV Laser GⅡ 系列 520nm 半导体片状激光光源,用于流体可视化测量,可开展搅拌装置、液滴、喷嘴喷雾、水槽河川模型、风洞的流动评估试验。适配流体力学实验室、高校科研、水务、航空风洞等行业,实现液相 PIV 测试,搭配荧光粒子完成流场观测。
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 电子/电池,汽车及零部件,综合,半导体,机械设备 |
PIV Laser GⅡ 系列是满足高精度流体可视化需求的激光片光源。采用 520nm 绿色半导体激光器,实现低闪烁、高稳定性。均匀且高亮度的片状光束,可完成精密可视化测量。

高运行稳定性相比固体激光器,实现更高工作稳定性
长寿命、免维护拥有媲美 LED 照明的产品寿命,无需维护
小巧机身便携性出色,适配各类实验环境
搭载符合 JIS 标准的安全机构标配各类符合 JIS 规格的安全机构
搅拌装置、液滴流动评估
回流水槽、河川模型水流试验
喷嘴喷雾效果评估
风洞实验
射流可视化
搅拌(液相)可视化
激光头
电源驱动器
电源线
钥匙(激光发射开关)
收纳箱
※关于海外规格,规格参数可能会不经预告发生变更,敬请知悉。
普通示踪粒子(容器内液相) → 荧光粒子 → 使用荧光粒子作为示踪粒子
荧光粒子(放大)→绿色激光照射,粒子发出橙色荧光→绿色激光被光学滤片过滤→相机镜头加装滤片,只拍摄荧光粒子
液相 PIV 中,来自气泡、搅拌槽的反射光会产生杂散光,干扰粒子图像拍摄。为解决该问题,可使用激光激发荧光粒子。荧光粒子受激光照射后,会发射与激光波长不同的荧光,可滤除杂散光,只拍摄粒子图像。举例:绿色激光照射后,荧光粒子会发出红色、橙色荧光。相机镜头加装只透过荧光的滤光片,即可滤除作为杂散光的绿色激光,只拍摄荧光粒子。
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 光源 | 半导体激光器 |
| 光形态 | 片状光束 |
| 输出功率档位 | 5000mW、2000mW、1000mW |
| 发射波长 | 520nm |
| 发射形态 | 连续光(CW) |
| 工作温度 | 10℃~35℃ |
| 输入电源 | 100‑240VAC 50Hz/60Hz |
| 最大功耗 | 约 50W |
电源驱动器充分考虑安全性与操作性,搭载最新设计。可通过液晶显示屏上的数字编码器调节输出功率,配备紧急停止按钮、外部互锁等各类安全机构。
※GⅡ 系列通用电源驱动器
可自由调节片状光的厚度与照射角度。按需调整,对需要局部可视化的高速现象十分有效。
可旋转激光头朝向,仅旋转出射的片状光束,不会造成输出功率衰减。
KATO KOKEN PIV Laser GⅡ 520nm半导体片光源 流体可视化PIV激光光源 该 PIV Laser GⅡ 系列 520nm 半导体片状激光光源,用于流体可视化测量,可开展搅拌装置、液滴、喷嘴喷雾、水槽河川模型、风洞的流动评估试验。适配流体力学实验室、高校科研、水务、航空风洞等行业,实现液相 PIV 测试,搭配荧光粒子完成流场观测。
KATO KOKEN PIV Laser GⅡ 520nm半导体片光源 流体可视化PIV激光光源 该 PIV Laser GⅡ 系列 520nm 半导体片状激光光源,用于流体可视化测量,可开展搅拌装置、液滴、喷嘴喷雾、水槽河川模型、风洞的流动评估试验。适配流体力学实验室、高校科研、水务、航空风洞等行业,实现液相 PIV 测试,搭配荧光粒子完成流场观测。