咨询电话
15766191432
products
产品分类技术文章/ article
日本HONDA本多便携式超声波测深仪（标准型号：PS-7/PS-30/PS-SF系列）基本定位•用途：手持、单人操作的水深/水底地形快速测量、渔业探查、疏浚验收...
AE-1152D超低电阻、超高精度测量非常适合自动测量超低阻值电阻器非常适合分流电阻等的超低电阻测量。消除热电动势影响的测量测量电流以脉冲形式施加，以减少测量端子的自热和磨损接触检查功能标准设备绝对测量：0.0000mΩ~1.5000kΩ%...
AE-162E用于超高速芯片电阻测试非常适合D、F、G、J、K级、片式、MELF、径向和轴向电阻器的分选机和编带机。兼容极小芯片（低功耗测量）超高速0.7msec.（典型值）热电动势抵消测量带来高精度和稳定性通过每个量程的测量值积分时间设置...
AE-162D用于超高速芯片电阻测试非常适合D、F、G、J、K级、片式、MELF、径向和轴向电阻器的分选机和编带机。由于模拟部分与数字部分的隔离提高了抗噪性，因此稳定性高兼容极小芯片（低功耗测量）超高速0.7msec.（典型值）热电动势抵消...
自动化晶圆处理晶圆搬运晶圆传输机批量-AHWT产品描述桌上型自动批量晶圆转移工具。AHWT兼容高或低盒型运输料盒、加工料盒或金属料盒。料盒感测器、等速控制和传输臂推力监控使得AHWT非常可靠并且安全，是手动HWT系列的升级版。该工具具有电流...
自动化晶圆处理检查工具强光检测仪-BLIS产品描述桌上型移动侦测触发自动开/关检测明亮箱，18英寸x18英寸x18英寸吸光的哑黑色阳极氧化处理观测箱,配有纯白可调LED灯。具有杂散光捕捉功能的BLIS可以轻易的装设于生产线中，操作员可以实时...
产品自动化晶圆处理检查工具WPR-单晶圆展示器-旋转描述自动单晶圆展示器设计用于将晶圆呈现给操作员以进行检查或从晶圆盒中取出晶圆以及用于宏观检查应用。WPR可用于晶圆翻转（反转）晶圆180°，用于背面应用。专为ISO等级3（FS209E等级...
HighSpeedModelat1310nmIVS-2000-HS【特征】IVS-2000-HS是可以进行高速测量的SS-OCT系统，中心波长为1310nm。结合该波长的低散射系数，IVS-2000-HS可对高散射材料进行高对比度和更深的成...
HighResolutionModelat1310nmIVS-2000-HR【特征】IVS-2000-HR是拥有高分辨率，其中心波长为1310nmSS-OCT系统。该波长带适合测量散射强的物体，因为即使在散射的物体中，光也很容易到达深处。此...
UltraLongImagingModelat1060nmIVS-1000-VCSEL【特征】IVS-1000-VCSEL是一款具有可改变成像范围特征的SS-OCT系统，中心波长为1060nm。在此波段内光不易被水吸收，适用于测量富含水分的...
santec/1310nm,高精度型号HSL-2100HSL-2100作为santec的HSL系列的畅销产品HSL-2100是由多边形扫描仪构成。该光源的特征是高重复性和线性，不需要K-触发器就可获取数据，因此可以简单构成整个系统。进而实现...
您的位置：
在线咨询
返回顶部