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metrixvibrati便携式测振仪5500 设计用于接受来自安装在机器外壳上的速度传感器、加速度计或轴观察接近探头系统的信号，并产生与测量变量成比例的 4-20 mA 输出。这种智能振动信号调节器具有两个独立的通道和一个刻度输出功能，可以为各种单位选择，例如 RMS、峰值或峰峰值（如果使用接近传感器）。5580 带有用于访问原始信号的 BNC、用于传感器状态的 LED 以及显示每个通道
更新时间：2024-07-12
metrixvibrati智能振动信号调理器5580 设计用于接受来自安装在机器外壳上的速度传感器、加速度计或轴观察接近探头系统的信号，并产生与测量变量成比例的 4-20 mA 输出。这种智能振动信号调节器具有两个独立的通道和一个刻度输出功能，可以为各种单位选择，例如 RMS、峰值或峰峰值（如果使用接近传感器）。5580 带有用于访问原始信号的 BNC、用于传感器状态的 LED 以及显示每个通道
更新时间：2024-07-12
metrixvibrati速度变送器ST5484E 地震变送器提供与振动幅度成比例的 4-20mA 直流信号输出，非常适合使用 PLC、DCS 或其他自动化系统代替独立振动监测器的应用。 Metrix 提供具有多种工作温度、频率响应、比例因子、外壳材料、连接器类型、安装选项和危险区域认证的地震变送器。
更新时间：2024-07-12
metrixvibrati 压电速度传感器SV6300 有两种不同类型的速度传感器——固态和动圈式。固态速度传感器实际上使用了一个加速度计以及一个集成电路和一个放大器，该放大器产生与传感器看到的速度成比例的输出。 动圈式速度传感器由两个主要部件组成 - 动圈和永磁体，线圈在永磁体的磁场中移动并产生自己的能量。任何给定的振动输入都会引起发电机动作（电动势），从而产生电压，该电压与传感器的输入速度
更新时间：2024-07-12
metrixvibration加速度计传感器SA6200A API 670 生的电荷与施加在机器或结构上的力所产生的加速度成正比。在旋转和往复运动的机器中，力是内部的，我们用加速度计测量套管运动。 加速度计可以测量动态或静态加速度。动态加速度是我们在振动的旋转或往复运动机器上测量的。静态
更新时间：2024-07-12
日本otsukael光谱分布测量系统 GP系列 通过光学方法可以进行非接触式和非破坏性的厚度测量。 实现高测量再现性 可实时高速监控抛光 实现了长 WD（工作距离）并且易于集成到设备中 从主机设备使用 LAN 通过 TCP/IP 通信进行控制 可以进行多层厚度测量 可测量临时晶圆（临时键合晶圆）各层厚度
更新时间：2024-07-12
日本otsukael光谱干涉式晶圆测厚仪SF-3 通过光学方法可以进行非接触式和非破坏性的厚度测量。 实现高测量再现性 可实时高速监控抛光 实现了长 WD（工作距离）并且易于集成到设备中 从主机设备使用 LAN 通过 TCP/IP 通信进行控制 可以进行多层厚度测量 可测量临时晶圆（临时键合晶圆）各层厚度
更新时间：2024-07-12
日本otsukael 显微分光膜厚仪OPTM系列 OPTM 是一种通过使用显微镜光谱测量微小区域的绝对反射率来实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。 各种薄膜、晶圆、光学材料等镀膜、多层膜厚度的无损、非接触测量。可以进行1秒/点的高速测量。此外，它配备了软件，即使是初次使用的用户也可以轻松分析光学常数。
更新时间：2024-07-12
日本otsukael 高灵敏度光谱辐射仪 HS-1000 能够测量从0.005cd/m2的超低亮度到400,000cd/ m2的高亮度 支持 CIE 推荐的宽波长范围（355nm 至 835nm） 专有光学系统减少了偏光误差 (1%)， 可以
更新时间：2024-07-12
日本otsukael多通道光谱仪 MCPD-9800/6800 这是一款涵盖紫外到近红外区域的多功能多通道光谱检测器。光谱测量可在短至 5 毫秒内完成。标准设备的光纤可用于各种测量系统，无需样品类型。除了显微光谱、光源发射和透射/反射测量外，它还可以与软件结合使用，用于物体颜色评估和薄膜厚度测量。能够从低亮度到高亮度进行高速、高精度测量的光谱辐射亮度计。
更新时间：2024-07-12
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