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日本otsukael Zeta 电位/粒径测量系统 ELSZneoSE 可根据应用增加功能（分子量测量、颗粒浓度测量、微流变学测量、凝胶网络结构分析、粒径多角度测量）。 使用标准流通池连续测量粒径和 zeta 电位 可在从稀溶液到浓溶液（高达 40%）的宽浓度范围内测量粒径和 zeta 电位
更新时间：2024-07-12
日本otsukael 电位/粒径/分子量测量系统ELSZneo ELSZ 系列中的最高型号，除了可以测量稀溶液到浓溶液中的 zeta 电位和粒径外，还可以测量分子重量。作为一项新功能，多角度测量已被采用，以提高粒度分布的分辨率。它还可以进行颗粒浓度测量、微流变学测量和凝胶网络结构分析。 新型zeta电位平板电池单元具有新开发的高盐涂层，可以在盐水等高盐环境下进行测量。我们还有一系列超微量细胞单元，
更新时间：2024-07-12
日本napson晶圆平面度测量系统FLA-200 支持厚度测量、PN判断、温度测量（硅晶圆） 自检功能，测量范围广 厚度/周边位置/温度校正功能（电阻率（resistivity）测量） 可根据要求容纳任意数量的包埋盒。 *可选：通讯软件，兼容SMIF或FOUP
更新时间：2024-07-12
日本napson非接触式电阻计 EC-80 支持厚度测量、PN判断、温度测量（硅晶圆） 自检功能，测量范围广 厚度/周边位置/温度校正功能（电阻率（resistivity）测量） 可根据要求容纳任意数量的包埋盒。 *可选：通讯软件，兼容SMIF或FOUP
更新时间：2024-07-12
日本napson4探针法全自动测量分选机 WS-8800 支持厚度测量、PN判断、温度测量（硅晶圆） 自检功能，测量范围广 厚度/周边位置/温度校正功能（电阻率（resistivity）测量） 可根据要求容纳任意数量的包埋盒。 *可选：通讯软件，兼容SMIF或FOUP
更新时间：2024-07-12
日本napson薄层电阻的 4 探针测量仪RT70V系列 半导体及太阳能电池材料（硅、多晶硅、SiC等） 新材料/功能材料（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等） 导电薄膜相关（金属、ITO等） 扩散样品 硅基外延、离子注入样品
更新时间：2024-07-12
日本technomate冷媒用电磁阀RPV 型 全新设计采用大幅提高视觉性的刻度板 小型,轻便 除自动复位、高压手动复位,高低压手动复位型等种类
更新时间：2024-07-12
日本technomate流量控制器 FQS 全新设计采用大幅提高视觉性的刻度板 小型,轻便 除自动复位、高压手动复位,高低压手动复位型等种类
更新时间：2024-07-12
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