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更新时间：2026-09-01简要描述：Kett 外観分析 谷物米粒穀粒判定器 RN-700 是株式会社ケット科学研究所生产的一款基于图像处理技术的谷物品质判定仪，采用500万像素CMOS传感器，只需将糙米铺在托盘上即可在约40秒内完成外观判定，测量粒数（800~1200粒）、粒长、粒宽、面积等参数，支持白度同时测量（选配），附带平板电脑与“米实验室“应用程序。
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 化工,能源,电子/电池,综合,半导体 |
2018年度 农业食粮工学会 开发奖
第48回 食品产业技术功劳赏（资材·机器·系统部门）
| 拍摄方式 | 光源 | 判定目的 |
|---|---|---|
| 透过光 | 10.4英寸彩色LCD（从下方透光） | 拍摄逆光下的米粒，识别粉状部、心白、乳白等 |
| 反射光 | RGB三色LED（从上方照射） | 识别着色粒等目视可确认的被的害的粒 |
| spot透过光 | 半尺寸光点（从下方局部照射） | 仅胴割粒产生裂纹可见，专用于识别胴割粒 |
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 测定方式 | 图像处理方式 |
| 测定对象 | 粳糯（うるち）玄米（标准）；粳糯精米（可选） |
| 判定项目（玄米） | 整粒、白未熟粒、着色粒、死米、胴割粒、碎粒、奇茶、异物等 |
| 判定项目（精米·选配） | 正常粒、粉状质粒、异种谷粒、着色粒、碎粒、被的害的粒、龟裂粒、小碎粒等 |
| 测定范围 | 0～100% |
| 测定粒数 | 800～1200粒（范围外作为参考值显示） |
| 测定时间 | 约40秒/1000粒（约16秒/1000粒，使用数据记录器软件时） |
| 显示 | 有机EL显示屏（128×64 dot） |
| 输入输出 | 内置打印机、USB 2.0、SD卡插槽 |
| 电源 | AC 100～240V（使用AC适配器）/ DC 5～24V（移动电池） |
| 使用温湿度 | 温度 5～35℃，湿度 10～80%RH（无结露） |
| 尺寸/重量 | 340(W)×360(D)×355(H)mm / 7kg（仅主机） |
用附带的勺子舀取约1000粒大米放入托盘
左右摇晃托盘将米铺平
将托盘插入主机（无需按键操作）
自动完成拍摄→判定→结果显示→打印输出
内置打印机：判定结果（粒种数量与比例）实时打印
有机EL显示屏：户外也能清晰查看
SD卡存储：数据保存到SD卡
PC连接：通过USB连接电脑
数据浏览软件（标配）：可查看拍摄时的原图
数据记录器软件「RDL-01」「NDL-03」（选配）：可查看更详细的结果分析、尺寸分布直方图等
Kett 外観分析 谷物米粒穀粒判定器 RN-700 是株式会社ケット科学研究所生产的一款基于图像处理技术的谷物品质判定仪，采用500万像素CMOS传感器，只需将糙米铺在托盘上即可在约40秒内完成外观判定，测量粒数（800~1200粒）、粒长、粒宽、面积等参数，支持白度同时测量（选配），附带平板电脑与"米实验室"应用程序。
Kett 外観分析 谷物米粒穀粒判定器 RN-700 是株式会社ケット科学研究所生产的一款基于图像处理技术的谷物品质判定仪，采用500万像素CMOS传感器，只需将糙米铺在托盘上即可在约40秒内完成外观判定，测量粒数（800~1200粒）、粒长、粒宽、面积等参数，支持白度同时测量（选配），附带平板电脑与"米实验室"应用程序。
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