涩谷光学 薄膜超薄样品 反射率测量系统

三大型号

核心特点

1. 小光斑测量：在样品表面聚焦出 φ50μm 的微小光斑（使用10×物镜），可实现微小区域的精确测量。
2. 无需背面遮光处理：采用特殊半透镜（已获专的利的），可有效削减后表面反射光，测量过程中背面光线不会进入，因此无需使用磨砂玻璃或黑色涂层进行遮光处理。使用20×物镜时，可对厚度低至 0.2mm 的超薄板进行反射率测量。
3. 同时兼容透镜与平面：可测量镜片曲率及镀膜不规则性，适用样品曲率半径范围为 -1R 到 -、+1R 到 +。
4. 高灵敏度传感器：

• 可见光/紫外波段：配备背照式 CCD 传感器，具有高灵敏度和优异信噪比

• 红外波段：采用 InGaAs 传感器，确保红外范围内的高灵敏度

• 512元线性 PDA 传感器 + 内置16位A/D转换器 + USB 2.0接口，实现高速处理

5. 信噪比优异：S/N 比达 1000:1（400–900nm），即使是低反射率样品也能快速且重复性地进行测量。
6. 色度测量功能：可进行色度测量和 Lab 色彩测量，可根据光谱反射率数据通过分光光度法测定物体颜色。
7. 数据管理便捷：数据可保存为 Microsoft Excel 格式；可在同一屏幕上显示多个测量结果，便于对比。
8. 非接触、无损测量：可实现对单层薄膜的非接触、无损测量。
9. 操作简便：配备人性化软件界面，测量时间仅需数秒至数十秒。

技术规格

典型应用场景

• 光学薄膜（单层/多层镀膜）的反射率检测

• 透镜、镜片等曲面光学元件的反射率与曲率测量

• 超薄玻璃/晶圆样品（低至0.2mm）的反射率测量

• 镀膜均匀性/不规则性评估

• 材料表面反射率快速筛选与品质管控

• 色度测量与 Lab 色彩分析

SHIBUYA OPTICAL MSP-100B 涩谷光学 薄膜超薄样品 反射率测量系统 专为小面积、曲面样品提供高速高精度反射率测量。采用专的利的半透镜技术，无需背面遮光处理，可测透镜与平面，光斑仅φ50μm。适用于光学元件制造、镀膜检测、玻璃加工、半导体晶圆、薄膜研发、材料科学、色度分析等行业，支持可见光/紫外/红外三波段覆盖。

SHIBUYA OPTICAL MSP-100B 涩谷光学 薄膜超薄样品 反射率测量系统 专为小面积、曲面样品提供高速高精度反射率测量。采用专的利的半透镜技术，无需背面遮光处理，可测透镜与平面，光斑仅φ50μm。适用于光学元件制造、镀膜检测、玻璃加工、半导体晶圆、薄膜研发、材料科学、色度分析等行业，支持可见光/紫外/红外三波段覆盖。