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    SE 400adv德国SENTECH 多角度激光椭圆偏振仪

    德国SENTECH 多角度激光椭圆偏振仪 SE 400adv 采用非接触式光学反射技术，用于精确测量薄膜厚度、折射率、吸收系数及偏振度等参数，可表征单层膜、多层膜堆叠及块体材料。适用于微电子、III-V族半导体、生物与生命科学、显示技术、磁介质、金属加工、太阳能电池等行业。

    更新时间：2026-09-09
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