SCREEN VM-1020显微镜式光学干涉膜厚测量仪，这是一款专为研发（R&D）设计的显微镜型测量设备，旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解决方案。

SCREEN OLED/液晶/半导体晶圆检测用干涉仪VM-1020，这是一款专为研发（R&D）设计的显微镜型测量设备，旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解决方案。

SCREEN 光干涉膜厚仪 2-12寸晶圆通用VM-1020，这是一款专为研发（R&D）设计的显微镜型测量设备，旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解决方案。

Luna干涉仪MICRON OPTICS FFP-I picoWave FFP-I1310-040M06502.5063，该产品为光纤法布里-珀罗的干涉仪，主要用于光通信波分复用、光谱分析及传感。适用于电信、光纤传感、激光雷达及科研等领域，实现波长锁定、滤波及精密测量。

日本fujifilm 激光干涉仪G102 内置变焦镜头可以测量小直径物体 凭借 8.6 倍变焦，它也能处理小零件。 紧凑、节省空间、轻松遥控操作（对焦、光强度调节、对准切换、变焦） 1.φ102mm高精度平板（玻璃、金属、陶瓷等）的平面度测量和透射波前测量。 2.内置变焦镜头可以测量小直径物体。 3.通过更换准直透镜*，可以测量直径达 150mm 的物体。

日本fujifilm 小型激光干涉仪F601 非接触式判断各种球形物体合格/不合格 紧凑而独的特的对准机制使您能够快速找到反射光，从而减少测量时间。 1.φ60mm高精度平板（玻璃、金属、陶瓷等）的平面度测量和透射波前测量。 2.通过与光束压缩器（2倍放大镜头）组合使用，甚至可以测量小物体（约φ5mm至φ25mm）。 3.如果要测量低反射率（约0.1%）的被摄体，可修改为超低反射率测量。