SCREEN VM-1020显微镜式光学干涉膜厚测量仪，这是一款专为研发（R&D）设计的显微镜型测量设备，旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解决方案。

SCREEN OLED/液晶/半导体晶圆检测用干涉仪VM-1020，这是一款专为研发（R&D）设计的显微镜型测量设备，旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解决方案。

SCREEN 光干涉膜厚仪 2-12寸晶圆通用VM-1020，这是一款专为研发（R&D）设计的显微镜型测量设备，旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解决方案。

Surface Optics可见红外反射仪 热发射ET100 410-Solar / 410-Solar-i 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率，符合ASTM E903和C1549标准测试方法。

太阳反射仪Surface Optics天文镜片 建筑用 太阳反射仪Surface Optics天文望远镜镜片用410-Solar / 410-Solar-i 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率，符合ASTM E903和C1549标准测试方法。

Surface Optics屋顶建筑隔热总太阳反射率仪410-Solar / 410-Solar-i 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率，符合ASTM E903和C1549标准测试方法。

Surface Optics漫反射率仪 太空涂层材料用410-Solar / 410-Solar-i SOC漫反射率仪 太空涂层建筑材料用 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率，符合ASTM E903和C1549标准测试方法。

Surface Optics镜面反射率仪SOC农业光伏用410-Solar / 410-Solar-i SurfaceOptics镜面反射率仪SOC农业光伏建筑 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率，符合ASTM E903和C1549标准测试方法。

美国Surface Optics便携式太阳反射率测量仪410-Solar / 410-Solar-i 美国SurfaceOptics航空/建筑 太阳反射率仪 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率，符合ASTM E903和C1549标准测试方法。

日本 SR 光纤光谱仪 LED在线测试系统 LL8-LED（-500） 是一款面向LED制造业的高性能、高灵活性光纤式光学测试系统，兼具实验室级精度与产线级速度，特别适合需要快速反馈、批量筛选、数据追溯的应用场景。无论是研发阶段的产品特性分析，还是量产过程中的品质监控，都能提供可靠支撑。