
SCREEN VM-1020显微镜式光学干涉膜厚测量仪,这是一款专为研发(R&D)设计的显微镜型测量设备,旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解决方案。
更新时间:2026-06-10SCREEN OLED/液晶/半导体晶圆检测用干涉仪VM-1020,这是一款专为研发(R&D)设计的显微镜型测量设备,旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解决方案。
更新时间:2026-06-10SCREEN 光干涉膜厚仪 2-12寸晶圆通用VM-1020,这是一款专为研发(R&D)设计的显微镜型测量设备,旨在提供高精度、高速度的薄膜厚度分析解决方案。
更新时间:2026-06-10Surface Optics可见红外反射仪 热发射ET100 410-Solar / 410-Solar-i 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率,符合ASTM E903和C1549标准测试方法。
更新时间:2026-07-10太阳反射仪Surface Optics天文镜片 建筑用 太阳反射仪Surface Optics天文望远镜镜片用410-Solar / 410-Solar-i 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率,符合ASTM E903和C1549标准测试方法。
更新时间:2026-06-09Surface Optics屋顶建筑隔热总太阳反射率仪410-Solar / 410-Solar-i 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率,符合ASTM E903和C1549标准测试方法。
更新时间:2026-06-09Surface Optics漫反射率仪 太空涂层材料用410-Solar / 410-Solar-i SOC漫反射率仪 太空涂层建筑材料用 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率,符合ASTM E903和C1549标准测试方法。
更新时间:2026-06-09Surface Optics镜面反射率仪SOC农业光伏用410-Solar / 410-Solar-i SurfaceOptics镜面反射率仪SOC农业光伏建筑 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率,符合ASTM E903和C1549标准测试方法。
更新时间:2026-06-09美国Surface Optics便携式太阳反射率测量仪410-Solar / 410-Solar-i 美国SurfaceOptics航空/建筑 太阳反射率仪 专用于测量镜面、漫反射及总太阳反射率,符合ASTM E903和C1549标准测试方法。
更新时间:2026-06-09CEM 红外热成像仪 预测性维护设备正常运作 DT-979Z+ 该手持红外热像仪用于预测性维护,设备故障排除和确认设备正常工作。LCD屏能显示红外图像和可见光图像,并且图像可以保存在SD卡中。通过读卡器把SD卡与电脑连接,可以把SD上的图片拷贝到电脑上,或者将图像传输到安装了“ThermoViewPro”应用程序的智能设备上。
更新时间:2026-07-09