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YAMADA高亮度LED光源装置 半导体晶圆检测用

  • 产品型号：YP-250IL / 卤素YP-250I
  • 更新时间：2026-06-17

简要描述：YAMADA高亮度LED光源装置 半导体晶圆检测用YP-250IL / 卤素YP-250I ，该产品用于检测晶圆及基板表面的划痕、异物等缺陷。主要适用于半导体、液晶面板及精密制造行业。

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品牌其他品牌产地类别进口
应用领域综合

产品概述

YAMADA山田光学 YP-250IL 是一款专为高精度工业检测设计的高亮度LED光源装置。该设备主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工领域，针对最为耗费人力的最终抛光面进行宏观观察。其核心功能在于精准检测产品表面的异物颗粒、细微划痕、研磨不均、雾化以及滑移等多种缺陷，是提升工业品控水平的重要光学辅助设备。

YAMADA高亮度LED光源装置 半导体晶圆检测用

核心技术优势

该光源装置具备非常高的光学性能，其输出照度可达400,000 Lx以上，亮度超过自然太阳光的4倍。在40mm的照射直径和220毫米的照射距离下，能够提供高度均匀且锐利的白色照明环境。这种超高照度与高均匀性的结合，使得检测人员能够清晰识别出常规照明下难以察觉的亚微米级细微缺陷，大幅降低了漏检率。

卓的越的硬件配置

YP-250IL 采用高品质LED作为发光源，不仅光照稳定，且使用寿命长达10,000小时，有效降低了设备的维护与耗材更换频率。在散热设计上，灯罩部分采用强制风冷（螺旋桨风扇类型），确保设备在0～40℃的环境温度下依然能够保持稳定的工作状态。

核心参数规格

以下是 YP-250IL 灯罩与配套 LPS-250 电源的详细技术参数：
参数类别规格指标备注说明
光源类型LED使用寿命达 10,000 小时
照度400,000 Lx 以上可达太阳光的4倍以上
照射直径40 mm高均匀性光斑
照射距离220 mm适配宏观观察需求
输入电源AC 100～240V 50/60Hz宽电压输入，兼容性强
功耗约 200W高效节能设计
光量调整电流调节式综合波动率仅为 1%
冷却方式强制风冷灯罩与电源均采用螺旋桨风扇
环境温度0～40℃适应常规工业车间环境
灯罩尺寸107(宽) × 229(高) × 114(深) mm重量约 2.94 kg
电源尺寸100(宽) × 117(高) × 195(深) mm重量约 1.65 kg

物理规格与安装适配

YP-250IL 灯罩本体自带20φ安装轴，能够灵活适配市面上主流的检测支架与显微镜系统，满足不同工业现场的集成需求。



YAMADA高亮度LED光源装置 半导体晶圆检测用YP-250IL / 卤素YP-250I ，该产品用于检测晶圆及基板表面的划痕、异物等缺陷。主要适用于半导体、液晶面板及精密制造行业。

YAMADA高亮度LED光源装置 半导体晶圆检测用YP-250IL / 卤素YP-250I ，该产品用于检测晶圆及基板表面的划痕、异物等缺陷。主要适用于半导体、液晶面板及精密制造行业。


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