HINDS Exicor 300AT 双折射测量系统 | 基于PEM技术的高精度工业计量

更新时间：2026-04-02

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在高价值光学元件的制造与检测领域，精度与效率是衡量检测设备的核心标准。Hinds Instruments 推出的 Exicor 300AT 双折射测量系统，凭借其获奖的光弹性调制器（PEM）技术，重新定义了平行面光学元件的评估标准。这不仅是一台测量仪器，更是下一代工业计量的生产力工具。

🚀 核心技术：基于PEM的卓的越的性能

Exicor 300AT 的核心在于其采用了 Hinds Instruments 独的家的 光弹性调制器（Photoelastic Modulator, PEM） 技术。与传统的旋转波片或偏振片测量方法不同，PEM 技术利用高频调制光束的偏振态，配合先的进的检测与解调电子技术，能够以极的高的灵敏度捕捉光学元件对偏振态的微小改变。

这种技术路线带来了以下颠的覆性的优势：

极的高的测量灵敏度：能够检测到极其微弱的双折射信号。
非接触式测量：保护昂贵的光学表面不受损伤。
理论支撑：系统不仅能测量光学延迟（Retardation）和快轴取向，还能基于这些数据评估材料的理论残余应力，为材料质量控制提供关键依据。

📏 硬核参数：为大尺寸与高精度而生

Exicor 300AT 专为工业生产环境设计，具备强大的物理承载能力和极的致的测量精度，是名副其实的“生产级工作马"。

1. 宽广的测量范围与承载能力

该系统采用垂直光束轴设计，配备精密的 X、Y 样品台，能够轻松容纳大型光学元件。

关键指标	参数详情
样品台行程	300mm × 300mm
最的大样品高度	100mm
最的大承重	40kg
适用对象	直径或边长300mm内的平行面光学元件

2. 亚纳米级的测量精度

在性能指标上，Exicor 300AT 展现了顶的尖的工业水准：

延迟测量范围：0 至 300+ nm。
分辨率/重复性：高达 0.001 nm（在3nm以内重复性为 ±0.03 nm）。
测量精度：优于 ±0.2 nm。
角度分辨率：0.01°。
光源波长：632.8 nm（标准氦氖激光波长）。
光斑尺寸：标称直径 1mm，确保细节捕捉能力。

3. 极的致的测量速度

效率是工业生产的生命线。Exicor 300AT 的数据采集速率超过 每秒 100 点（不含运动时间），配合自动扫描功能，大幅缩短了检测周期。

⚙️ 智能化与可扩展性

标准配置：

系统搭载了专业的 Exicor ATS 软件，操作界面友好，支持平行表面光学元件的全自动扫描。软件能实时生成二维延迟图和快轴取向图，并提供详尽的扫描统计数据。硬件方面，系统配备了 Windows 7 控制计算机、显示器、状态灯塔以及紧急停止按钮，确保操作安全便捷。独特的样品台前向装载设计，增加了装载样品时的访问空间，提升了操作体验。

可选升级（Options）：
为了满足不同客户的极的致需求，系统提供了灵活的升级选项：

SIM（Scan In Motion）：实现扫描过程中移动，可缩短 50% 或更多的扫描时间，扫描速度最的高可达 100mm/s。
高分辨率模式：通过采用探测器面 0.2mm 针孔照明技术，显著减小测量光斑尺寸，提高空间分辨率。
低光平探测器：针对透光率极低或微弱光信号的特殊检测需求提供支持。

🌍 结语

Exicor 300AT 不仅继承了 Hinds Instruments 数十年在高灵敏度工业计量领域的经验，更通过 PEM 技术将测量速度与精度提升到了新的高度。无论是学术研究还是工业生产，它都是评估大尺寸、高价值光学元件残余应力与双折射特性的理想选择.。