YAMADA高亮度LED光源装置 半导体晶圆检测用YP-250IL / 卤素YP-250I ，该产品用于检测晶圆及基板表面的划痕、异物等缺陷。主要适用于半导体、液晶面板及精密制造行业。

日本山田光学yamada kogaku LED检查灯，YP-250IL / 照度40万Lx，该设备专为精密制造领域的宏观观察而设计，核心优势在于其非常高的光照强度与优异的光学稳定性，旨在解决半导体、液晶面板及精密加工行业中，对于产品表面微小瑕疵难以通过常规光源识别的痛点。

日本h-repic 用于宏观检查的聚光照明 MSPA-10WA 高亮度LED照明支持目视宏观检查！ 可在洁净室环境中使用。 特征 1.明亮均匀的照明使其成为半导体晶圆检查以及玻璃和透镜目视检查的理想选择。 2.通过支架和轴的组合实现灵活的照明 3.通过使用灯泡色 LED，可以替代卤素灯。 4.由于它是无风扇的，因此可以在讨厌灰尘的洁净室环境中使用。

日本h-repic LD光纤光导光源LA-HLF100 实现超越金属卤化物光源和氙气光源的亮度！ 特征 实现长寿命、高功率！！ 光纤光源类型实现了有史以来最高的照度！ 实现的照度约为 350W 金属卤化物灯光源的 2 至 2.5 倍（我们的比较）。 没有金属卤化物灯、氙气灯、高强度LED等不可替代的光源。

日本h-repic 电源装置 LP-2424 这是一款高亮度线型LED照明设备专用电源。采用恒流点亮方式，去掉了LED点亮部分的热源限流电阻，增加了光量。 特征 1.一个单元支持长度为 200 毫米至 1,000 毫米的线型 LED 照明。 2.主从功能允许多台设备同步运行（LP-2424RD5只能作为主机） 3.配备多种保护电路：过热保护、过压保护、过流保护

日本hamamatsu UV-LED 点光源LIGHTNINGCURE LC-L1V5 紧凑的机身可以安装到狭窄的空间中。 我们开发出一种可驱动 4 个探头的装置，同时外形仅手掌大小。此单元也可以自由地垂直或水平放置于狭小的空间内，因此无需特殊布局。

日本inter-action光源装置 IA-NIR110W 用于测距传感器检查，这是用于测试 iToF 传感器的光源设备。它内置于测试头中，并用受控光照射传感器。您可以选择三种波长（810nm/850nm/940nm）之一。 主要特点： 1.实现减少斑点噪声的宽照射区域。 2.所有波长的辐射强度误差小于5%。 型号名称：IA-NIR110W 类型：内置测试头类型 照射区域：160毫米X150毫米

日本inter-action光源装置 IA-OPT576WC 这是用于测试图像传感器的光源装置。它内置于测试头中，将受控光照射到图像传感器上。可以对每个照度进行色度校正，从而可以照射具有高色度再现性的光。 主要特点：1.高照度、广照射区域光源装置。 2.色度安定性 +/-0.3% 未満 3.远场性1.0度以下

日本inter-action光源装置 IA-OPT585WXR 这是用于测试图像传感器的光源装置。它内置于测试头中，将受控光照射到图像传感器上。可以进行色温校正。 主要特点： 1.高照度、广照射区域光源装置。 2.全照度域色温度变化率士3%以下。 3.远心率1.0度以下

日本moritex 紫外光源MSU-6 ▪ 具有性价比的紫外光源，将许多最的新的紫外技术到一个紧凑的尺寸中。 目的 • 光学拾取部件的粘合 • 透镜的粘合 • 光学部件的粘合