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  • PGD-4tokyokoden清晰度光泽度计
    PGD-4tokyokoden清晰度光泽度计

    tokyokoden清晰度光泽度计PGD-4 无需担心外部光线即可使用 除了标准的 10mm 方形池外,还可以使用外径为 12φ 的透明管。 可由交流适配器、USB 或 AA 电池供电

    更新时间:2024-07-10
  • CANA-0010tokyokoden数字照度计
    CANA-0010tokyokoden数字照度计

    tokyokoden数字照度计 CANA-0010 追求“易用性”和“准确性”的精密照度计 范围从 0.0 lux 到 39999 lux 显示分辨率 0.1 lux for 1000 lux or less (when holding) 2 种显示保持模式,用于即时和定时器 自动关机功能

    更新时间:2024-07-10
  • CANA-3040tokyokoden脱模剂稀释秤
    CANA-3040tokyokoden脱模剂稀释秤

    tokyokoden脱模剂稀释秤CANA-3040 无需担心外部光线即可使用 除了标准的 10mm 方形池外,还可以使用外径为 12φ 的透明管。 可由交流适配器、USB 或 AA 电池供电

    更新时间:2024-07-10
  • Graviton SPA-3 / SPA-4宽带O/E光电转换器件 高速光信号转电信号
    Graviton SPA-3 / SPA-4宽带O/E光电转换器件 高速光信号转电信号

    Graviton SPA‑3/SPA‑4 宽带 O/E 光电转换器 宽带O/E光电转换器件 高速光信号转电信号 ,将光信号转换为电信号,可直连示波器、频谱分析仪完成光波形、光脉冲检测,支持 2‑3GHz 宽带信号采集。适用于光通信、激光测试、光纤传感、科研实验室,可做多模光纤、塑料光纤的信号监测与性能验证。

    更新时间:2026-08-24
  • FOD OH20在线雾度仪 薄膜透光率检测仪
    FOD OH20在线雾度仪 薄膜透光率检测仪

    FOD OH20在线雾度仪 薄膜透光率检测仪 是一款专为薄膜在线实时检测雾度(H)和透光率而设计的模块化检测系统,采用透射0/D照明方式,符合ASTM D1003、ISO 13468国际标准,最小检测间隔仅5秒,1.5秒超短测试周期,支持全程无人值守与远程数据传输,适用于塑料薄膜、包装材料、光学薄膜等行业的在线质量控制与生产过程监控。

    更新时间:2026-08-25
  • 中创科仪FounderLab OH20塑料/光学薄膜 包装材料在线质量监控雾度计
    中创科仪FounderLab OH20塑料/光学薄膜 包装材料在线质量监控雾度计

    中创科仪FounderLab OH20 塑料/光学薄膜 包装材料在线质量监控雾度计 该产品主要应用于薄膜生产领域,包括塑料薄膜、包装材料、光学薄膜等行业的在线质量监控与检测。

    更新时间:2026-08-25
  • UM-80TER TM4000UNIROCK电子显微镜除振(隔振)台
    UM-80TER TM4000UNIROCK电子显微镜除振(隔振)台

    UNIROCK电子显微镜除振(隔振)台 UM-80TER TM4000 通过除振台、支撑座、消磁笼等产品,有效消除地面振动与磁场干扰,确保显微镜成像精度。适用于半导体制造、纳米材料研究、生物医药、高校科研实验室及洁净室等高精度观测行业。

    更新时间:2026-09-11
  • ND 12日本NIPPON DENSHOKU 光泽度计反射率仪表
    ND 12日本NIPPON DENSHOKU 光泽度计反射率仪表

    日本konicaminolta分光光度计CM-36dGV 产品概述日本NIPPON DENSHOKU 光泽度计反射率仪表 主要用于粉末、颜料、纸张、纺织品等的色彩管理。 可以同时测量颜色和光泽,同时保持与 CM-3610A 的数据兼容性(*使用 SCI/LAV 时) 使用场景:纺织/服装

    更新时间:2025-02-21
  • NDK NDH8000 雾度仪
    NDK NDH8000 雾度仪

    NDK NDH8000 雾度仪 NDK 日本电色 NDH8000 雾度仪,是高性能树脂、光学薄膜、包装材料、玻璃等材料专用光学检测仪器。仪器依据 JIS、ASTM、ISO 多项工业标准,可同时测量雾度、总透光率、漫透射率、平行透光率和浊度,无损检测试样,适配多种规格样品,广泛应用于材料质检与研发实验室。

    更新时间:2026-09-24
  • SHIBUYA OPTICAL MSP-100B涩谷光学 薄膜超薄样品 反射率测量系统
    SHIBUYA OPTICAL MSP-100B涩谷光学 薄膜超薄样品 反射率测量系统

    SHIBUYA OPTICAL MSP-100B 涩谷光学 薄膜超薄样品 反射率测量系统 专为小面积、曲面样品提供高速高精度反射率测量。采用专的利的半透镜技术,无需背面遮光处理,可测透镜与平面,光斑仅φ50μm。适用于光学元件制造、镀膜检测、玻璃加工、半导体晶圆、薄膜研发、材料科学、色度分析等行业,支持可见光/紫外/红外三波段覆盖。

    更新时间:2026-08-26
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