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产品型号：TSUBOSAKA SSWP-4535-01
更新时间：2026-09-04简要描述：TSUBOSAKA SSWP-4535-01 硅酮标准白色板 白光反射板 二维亮度计校准 硅酮标准白色板，采用高反射硅酮涂层，有效白面450×350mm，反射率高达80%~100%，适用于二维亮度计校准、LED芯片照射特性检测、光源均匀性评估及高低温环境光学测试，广泛应用于光学仪器校准、LED制造检测、光电研发及质检行业。
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 化工,能源,电子/电池,综合,半导体 |
高反射率涂层：采用高反射白色硅酮涂装，在400nm～2000nm波长范围内反射率可达80%～100%，光谱反射率数据随产品附带
大面积有效白色面：有效白色面 450mm × 350mm，满足大面积均匀照明检测需求
小型型号可选：另提供15cm角的小型型号
耐温性能：涂层工艺使其可承受 -40℃ ～ +140℃ 的温度环境，适用于温度试验
附带保护盖：配备白色面专用保护盖，防止非使用状态下表面受损
附带分光反射率数据：随产品提供分光反射率数据，确保校准的准确性和可追溯性
TSUBOSAKA SSWP-4535-01 硅酮标准白色板 白光反射板 二维亮度计校准 硅酮标准白色板，采用高反射硅酮涂层，有效白面450×350mm，反射率高达80%~100%，适用于二维亮度计校准、LED芯片照射特性检测、光源均匀性评估及高低温环境光学测试，广泛应用于光学仪器校准、LED制造检测、光电研发及质检行业。
TSUBOSAKA SSWP-4535-01 硅酮标准白色板 白光反射板 二维亮度计校准 硅酮标准白色板，采用高反射硅酮涂层，有效白面450×350mm，反射率高达80%~100%，适用于二维亮度计校准、LED芯片照射特性检测、光源均匀性评估及高低温环境光学测试，广泛应用于光学仪器校准、LED制造检测、光电研发及质检行业。
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