
products
产品分类
产品型号:UIH-2D / UIH-3D
更新时间:2026-05-20简要描述:日本INTECS超高輝度照明装置UIH-1C 晶圆用,UIH-2D / UIH-,该设备主要用于半导体晶圆、掩模玻璃、光学部件等精密元件的表面瑕疵(如雾状缺陷/ヘイズ)检测。
| 品牌 | 其他品牌 |
|---|
日本INTECS超高輝度照明装置UIH-1C 晶圆用,UIH-2D / UIH-3D,该设备主要用于半导体晶圆、掩模玻璃、光学部件等精密元件的表面瑕疵(如雾状缺陷/ヘイズ)检测。
日本INTECS超高輝度照明装置UIH-1C 晶圆用,UIH-2D / UIH-3D,该设备主要用于半导体晶圆、掩模玻璃、光学部件等精密元件的表面瑕疵(如雾状缺陷/ヘイズ)检测。

可变光强范围:所有型号的光强调节范围均在 10:1以上。
冷却保护机制:为保护灯泡,即使主电源关闭,风扇也会持续运转直至灯室温度降至约40℃以下(UIH-2D和3D具备过热强制熄灯功能)。
适用对象:智能手机屏幕、半导体晶圆(Wafer)、掩模玻璃(Mask Glass)、硬盘、液晶面板、镜头等精密部件的表面及内部检查。
垃圾坑火灾监控装置(TAM系列):用于监控特定设施的安全装置。
半导体晶圆断面形状测量装置(WEMS、VSSW):用于半导体制造领域的精密测量。