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更新时间：2026-07-16 
浏览次数：291UIH-1C 型超高亮度照明装置（UIH Series）是由株式会社 INTECS 开发的专业光学检测设备。该装置主要利用丁达尔现象（Tyndall Phenomenon），通过投射高亮度光线，辅助用户对半导体晶圆（Wafer）及光掩模玻璃（Mask Glass）等精密光学材料进行表面与内部缺陷的目视检查。
检测原理：当高亮度光线照射到目标物体时，利用丁达尔现象使微小的异物、气泡或伤痕产生散射光，从而在视觉上清晰可见。
适用对象：
半导体晶圆（Semiconductor Wafer）
光掩模玻璃（Mask Glass）
液晶面板（LCD Panel）
硬盘（Hard Disk）
镜头及智能手机部件等。
| 项目 | 规格参数 |
|---|---|
| 光源规格 | 15V 150W |
| 设计照射范围 | 镜筒前端 180mm 处，直径 φ40mm |
| 最的高照度 | 照射范围中心约 600,000 勒克斯 (Lux) |
| 500,000 勒克斯时的照射范围 | 约 φ45mm |
| 倍径距离与照度 | 360mm 距离下，照度约 150,000 勒克斯 |
| 调光方式 | SCR 相位控制 (SCR Phase Control) |
| 冷却方式 | 风扇强制空冷 (Fan Forced Air Cooling) |
| 电源要求 | AC100V 变压器式 (Transformer type) |
| 外形尺寸/重量 | 约 7kg |
亮度调节：具备 10:1 以上的可变宽度，最的高亮度偏差控制在上限 10%、下限 20%。
灯泡寿命：
最的高亮度下寿命：50 小时以上。
半亮度下寿命：800 小时以上。
冷却保护机制：该型号不具备“灯泡室冷却保持功能"（即在主电源关闭后，风扇不会持续运行至室温降至 40℃ 以下）。同时，该型号未配备灯泡室内发热监控功能。
UIH-1C 作为 UIH 系列的基础型号，通过 150W 高亮度光源和精确的光学设计，能够满足半导体 Wafer 及 Mask Glass 在生产过程中的表面伤痕、异物及内部气泡的目视检测需求。其结构紧凑（约 7kg）且采用标准的变压器式电源，适合对特定尺寸工件（如设计照射径 φ40mm 的对象）进行高精度的光学检查。
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