日本snk可视化光源112 这是用于建筑机械和工业机械的 3 轴加速度传感器单元。 它支持高加速度输入，并具有使用各种数字滤波器和快速傅立叶变换 (FFT) 的波形分析功能。 可用于加速度监控、状态诊断、异常检测等多种应用。

KATO KOKEN PIV半导体漂浮物可见荧光光源器 KLM-600FC 该产品主要用于流体力学分析（PIV）及微小粒子可视化检测。适用行业涵盖科研、半导体、二次电池、制药及精密制造等，特别适合在洁净室环境中进行气流分析、异物追踪及发尘源检测。

Anritsu半导体OCT 干涉仪 波长扫描光源 AQA5500P/AQB5500P是一款 1550nm 相位连续无跳模波长扫描光源，凭借 100m+ 超长相干长度，适用于光干涉法精密尺寸测量、OCT 医疗/工业断层成像、光纤传感（温度/应变/振动监测）及光器件波长特性检测，广泛应用于精密制造、半导体、航空航天、医疗器械、结构健康监测等行业。

日本nishihara激光光源NCL-161 超小型轻型电流表。 ・可以使用PC软件轻松保存和编辑数据。 ・支持多重通电。

日本seiwaopt多位置环形照明SRM 系列 通过改变照射距离可以适应广泛的应用。 高亮度 LED 以高密度集中，提供均匀且极亮的照明。

山田光学 LED光源 晶圆异物划痕雾状检查灯YP-250IL / yamada-opt，山田光学 YP-250IL 为高照度 LED 检测光源，可清晰检出细微划痕、雾斑、颗粒、抛光不良等微小表面缺陷，发热量低、寿命长久，适配人工质检与 AOI 自动化设备。广泛用于半导体硅片、FPD 玻璃基板、光学镜片、精密抛光模具、镀膜薄膜工件检测，适配无尘车间量产抽检、成品终检、实验室样品观测场景。

细微划痕雾斑颗粒抛光不良 人工质检灯 LED，山田光学YP-250IL主要用于半导体晶圆和液晶基板的表面宏观缺陷检测，凭借高达400,000 Lx的照度，能清晰识别划痕、异物和研磨不均等微小瑕疵。 适用行业以半导体制造和液晶面板生产为主，同时也适用于精密电子元器件、光学元件等需要高亮度、长寿命照明的工业自动化检测场景。其核心价值在于用LED技术替代短命卤素灯，大幅降低产线停机维护成本

日本CCS电源数字光源控制器 PJ-1505-2CA 结合了三种类型的照明：圆顶照明、低角度照明和同轴落射照明。实现对工件均匀无影的漫射光照射。

日本iwasaki半导体相关光源/设备003 半导体是一种导电性介于容易导电的“导体”和不导电的“绝缘体”之间的物质。它具有通过施加电压、光或热来导电或不导电的性质，并且其导电性可以通过添加的杂质的量来控制。由于这些特性，半导体不仅用于晶体管和集成电路，而且还用于许多电子设备，例如半导体激光器和各种传感器。诸如硅(Si)和锗(Ge)的物质被用作材料。

日本AITEC艾泰克 手持式强光检查灯LSP68x240W 高辉度化制品,应用于有色工件的检查亦可威力全发 ●采用高亮度LED发光体、搭载独自开发之光学系统・散热结构的直线式光源 ●替代更换金属卤素灯・线性光导缆照射架构－实绩丰富 ●搭载全新概念冷却机构,大大抑制冷却气流对工件的影响