Santec偏振光源 PMF跳线评估与偏振轴对准用 PLS-100 是一款偏振光源，专为需要高稳定性和高偏振度的场景设计。它的主要用途是进行光学器件的偏振轴对准，以及评估带连接器的保偏光纤（PMF）跳线。这款设备主要面向光通信和光纤传感领域的研发（R&D）与生产环境，适用于需要精确测量偏振消光比（PER）的工程师和技术人员。

微粒子可视化LED光源 气流分析洁净室环境用 SNK ViEST Parallel Eye M 这款微粒子可视化用LED光源，主要用于清晰观察悬浮微粒和气流的动态。它适用于制造现场、研究设施等需要评估洁净室环境、进行气流分析或粉尘控制的行业。

ViEST微粒子可视激光光源 远程可控均匀片光 这款微粒子可视化光源，利用激光片光技术，可非接触、实时地观测气流或液体中微粒子运动。适用于科研、工业检测等领域。

KATO KOKEN PIV半导体漂浮物可见荧光光源器 KLM-600FC 该产品主要用于流体力学分析（PIV）及微小粒子可视化检测。适用行业涵盖科研、半导体、二次电池、制药及精密制造等，特别适合在洁净室环境中进行气流分析、异物追踪及发尘源检测。

Anritsu半导体OCT 干涉仪 波长扫描光源 AQA5500P/AQB5500P是一款 1550nm 相位连续无跳模波长扫描光源，凭借 100m+ 超长相干长度，适用于光干涉法精密尺寸测量、OCT 医疗/工业断层成像、光纤传感（温度/应变/振动监测）及光器件波长特性检测，广泛应用于精密制造、半导体、航空航天、医疗器械、结构健康监测等行业。

激光光源 30W 高速摄像机拍摄激光焊接现象 NCL-161是一款专为激光加工行业设计的激光光源。它作为高功率照明设备，配合高速摄像机使用，能清晰捕捉激光焊接等加工过程中的瞬间现象，实现自动化拍摄监控。

SEIWA SRM-55W/SRM-160B 多位置环形光源 LED照明电子汽车新能源检测 该产品为SRM系列多位置环形照明，专为工业机器视觉系统设计，通过高密度LED阵列实现均匀、高亮度的环形照明，适用于多种精密检测场景。 主要用途包括：PCB基板焊盘与线路缺陷检测、电子元件外观与字符识别、玻璃盖板表面划痕与崩边检查、金属零件边缘轮廓提取、高速运动物体的“冻结”成像检测等。

山田光学 LED光源 晶圆异物划痕雾状检查灯YP-250IL / yamada-opt，山田光学 YP-250IL 为高照度 LED 检测光源，可清晰检出细微划痕、雾斑、颗粒、抛光不良等微小表面缺陷，发热量低、寿命长久，适配人工质检与 AOI 自动化设备。广泛用于半导体硅片、FPD 玻璃基板、光学镜片、精密抛光模具、镀膜薄膜工件检测，适配无尘车间量产抽检、成品终检、实验室样品观测场景。

细微划痕雾斑颗粒抛光不良 人工质检灯 LED，山田光学YP-250IL主要用于半导体晶圆和液晶基板的表面宏观缺陷检测，凭借高达400,000 Lx的照度，能清晰识别划痕、异物和研磨不均等微小瑕疵。 适用行业以半导体制造和液晶面板生产为主，同时也适用于精密电子元器件、光学元件等需要高亮度、长寿命照明的工业自动化检测场景。其核心价值在于用LED技术替代短命卤素灯，大幅降低产线停机维护成本

‌Aitec LSP68x240W-ST LED Illuminator‌ 是一款高亮度、无频闪的工业级手持聚光照明设备LED聚光灯 半导体晶圆汽车玻璃屏显检查灯 ，专为精密表面缺陷检测设计。广泛应用于‌半导体晶圆‌、‌汽车焊缝‌、‌玻璃屏显‌及‌金属零件‌的划痕、气泡、镀层不均等微小瑕疵目视检查，适配自动化视觉系统，提升成像清晰度与检测效率。