日本INTECS超高輝度照明光源灯UIH-1C晶圆用日本INTECS超高輝度照明装置UIH-1C 晶圆用，UIH-2D / UIH-，该设备主要用于半导体晶圆、掩模玻璃、光学部件等精密元件的表面瑕疵（如雾状缺陷/ヘイズ）检测。

DAICO半导体洁净室点检维护灯 608nm 光源 608nm DHL608 适用于光刻环境中的作业，如高的端的曝光机、涂布机及显影设备等，配备高亮度黄色光源（用于光刻与维护）。通过滤除光刻胶的感光波长范围进行发光，彻的底的消除白光照射带来的感光风险，显的著的提升作业效率。

光源DAICO大兴制作所 半导体光刻黄光手电灯 日本DAICO大兴制作所 半导体光刻用黄光手电 DHL608 适用于光刻环境中的作业，如高的端的曝光机、涂布机及显影设备等，配备高亮度黄色光源（用于光刻与维护）。通过滤除光刻胶的感光波长范围进行发光，彻的底的消除白光照射带来的感光风险，提升作业效率。

山田光学 350W卤素灯光源 250W卤素光源 JCR15V150W ELC24V250W yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

yamada山田光学40万Lx卤素冷光源瑕疵检测灯 YP系列 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

山田光学 外观显微观察表面检查灯 亮度可调 双光源 YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

山田光学 8英寸晶圆抛光缺陷检查灯＜0.2μm YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

YAMADA KOGAKU山田光学 高功率检查灯 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

山田光学半导体晶圆划痕抛光不均雾状检查灯 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。

山田光学 晶圆硅片碳化硅φ30-60异物检查灯 YP-150I YP-150ID YP-250I yamada-opt山田光学工業YAMADA KOGAKU高辉度卤素光源装置，主要应用于半导体晶圆及液晶基板加工过程中的最终表面检查环节，用于辅助检测表面异物、划痕、研磨不均、雾度及滑移等缺陷。