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表面测量受限于防振台和洁净室?TN-A1激光干涉仪任意场地测Sa/Ra和台阶高度

更新时间:2026-08-20      浏览次数:24

在半导体晶圆制造、精密机械加工、光学元件检测等领域,表面粗糙度(Sa/Ra)和台阶高度的测量精度,直接决定了产品的最终良率与可靠性。然而,长期以来,要实现纳米级精度的表面测量,企业往往不得不面对一个令人头疼的现实:昂贵的防振台、苛刻的洁净室环境、以及动辄数十分钟的漫长等待。

AFM(原子力显微镜)作为传统的高精度测量工具,虽然分辨率可达纳米级,但其对安装环境的严苛要求——必须配备价格约200万日元的防振台、需要洁净室环境、测量范围通常局限在50μm×50μm、单次测量耗时5~15分钟——使得它更多只能作为抽检工具,难以真正融入生产线。

那么,有没有一种设备,既能达到AFM级的测量精度,又能摆脱防振台和洁净室的束缚,在车间现场实现快速、全数检查?

TWIN NINES TN-A1非接触激光干涉仪,给出了肯定的答案。

表面测量受限于防振台和洁净室?TN-A1激光干涉仪任意场地测Sa/Ra和台阶高度

技术解密:为什么TN-A1不需要防振台?

要理解TN-A1为何能在任意场地稳定工作,首先需要了解其核心技术——光学外差干涉测量系统

传统的光学干涉测量仪(如白光干涉仪)依赖干涉条纹的分布来分析表面形貌,对外界振动极其敏感,稍有扰动就会导致条纹模糊、测量失效,因此必须配备昂贵的防振台-

而TN-A1采用的光学外差干涉法,则是通过分析两束激光之间相位差的变化来获取表面高度信息。具体来说,一束激光经聚焦后作为测量光探针扫描工件表面,另一束作为参考光束,两束光反射后产生干涉,测量信号与参考信号的相位差直接反映表面高度变化。由于这种测量方式不依赖干涉条纹的空间分布,而是基于光波长的相位差进行检测,因此对外部干扰噪声具有很强的抗性

简单来说:别人的测量靠“看条纹",TN-A1的测量靠“算相位差" 。前者怕振动,后者不怕。这就是TN-A1无需防振台、无需洁净室、可以放在研磨加工机旁边直接使用的根本原因


核心价值:TN-A1能为您解决什么?

1. 任意场地,即放即测

无需防振台(节省约200万日元设备投入),无需真空设备,无需洁净室。设备本体仅重约27kg,外形尺寸W220×D550×H420mm,可灵活部署在车间、产线旁、实验室等任何需要测量的地方

2. AFM级别的测量精度

以光的波长为基准,采用光学外差干涉法实现高度方向分辨率0.1nm(1nm=十亿分之一米),与AFM具有测量兼容性。标准高度测量范围0.5nm至300nm-
,足以覆盖从超光滑表面到微细台阶的各类测量需求。

3. 25秒完成测量,效率提升数十倍

测量100μm×100μm区域仅需25秒,而AFM完成同样任务通常需要5~15分钟这意味着TN-A1不仅可以用于抽检,更能实现产线全数检查,帮助企业在第一时间发现工艺偏差、及时调整参数,从而显著提升良品率。

4. 非接触,无损测量

采用红色激光(波长632.8nm)进行非接触式测量,不会对被测物体产生任何物理接触或损伤。对于晶圆、光学镜片、薄膜等精密部件而言,这一点尤为重要——接触式测量可能划伤表面或污染样品,而非接触式测量则完的全的避免了这些风险。

5. 大范围、多点自动测量

载物台X轴可移动45mm、Y轴可移动45mm,在此范围内可实现多点自动测量。无论是小尺寸的芯片局部,还是大尺寸的晶圆全面检测,均可灵活应对。

6. 操作简单,无需专业人员

只需将样品放置在指定夹具上,设定对焦和测量范围等基本条件即可开始测量。无需对样品进行特殊预处理,不使用真空设备,无需专门的操作员即可操作

7. 运行成本极低

几乎没有消耗品,无需更换探针(AFM需定期更换探针),激光输出仅几毫瓦,节能安全。设备本体价格约为AFM的30%~50%——无论是初期投入还是长期运营,都大幅降低了企业的测量成本。


典型应用场景

TN-A1广泛应用于半导体晶圆表面粗糙度控制与台阶高度测量、精密加工与CMP(化学机械抛光)质量评估、光学元件表面光洁度检测、以及VLSI标准片等各类标准样品的校准测量。无论是晶圆表面的2D形状测量,还是钽酸锂(LT)基板等特殊材料的表面分析,TN-A1都能提供与AFM具有互换性的可靠数据


结语

长期以来,高精度表面测量似乎总与“昂贵"“娇贵"“缓慢"这些词绑定在一起。防振台、洁净室、漫长的等待——这些似乎成了追求纳米级精度的“必要代价"。

TWIN NINES TN-A1的出现,打破了这一固有认知。它以光学外差干涉法为核心,用相位差测量替代了条纹观测,让纳米级表面测量从此摆脱了防振台和洁净室的束缚。25秒的测量速度、0.1nm的分辨率、任意场地的灵活部署——这些特性加在一起,意味着企业终于可以在产线旁、在加工机附近、在任何需要的地方,对每一片晶圆、每一个精密部件进行快速、精准的全数检查。不再受限于场地,不再受限于时间。TN-A1,让纳米级表面测量真正走进了生产一线。






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