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产品分类技术文章/ article
TEKHNE露点仪TK-100综合介绍一、核心功能与测量对象TK-100的核心功能是精确测量气体中的水分含量，并以多种参数显示：露点温度：核心参数。指气体在恒定...
一、产品概述日本RIONTEC手持式颗粒计数器是一种便携式、电池驱动的精密仪器，用于快速、准确地测量和计数空气中的微粒。它能够同时监测多个通道（如0.3μm,0.5μm,1.0μm,5.0μm等），并直接显示每立方米或每立方英尺空气中的颗粒...
一、工作原理：分光光度法PATRON分光色差计的核心工作原理是分光光度法。这是一种比传统色差计（使用滤镜模拟人眼）更高级、更精确的技术。其过程可以概括为：照明：仪器内部的脉冲氙灯或LED光源发出包含整个可见光谱（通常为360nm-750nm...
一、工作原理：库仑法电解式膜厚测定仪的工作原理基于库仑法，这是一种电化学溶解方法。其过程可以概括为：建立电解池：将仪器配备的专用测量头（内含阳极）紧密压在待测涂层表面。测量头底部有一个橡胶圈，内部充满特定的电解液。这样，测量头（阳极）、涂层...
Robotmation多功能蛋品检测仪详细介绍一、产品定位与核心价值这款设备的定位是：为蛋品生产企业（如蛋鸡场、蛋品加工厂、食品厂）提供一套全面、高效、无损的内部品质检测与分级解决方案。其核心价值在于：替代人眼与经验：用客观的量化数据取代传...
日本SANKO自动附着试验机详细介绍一、产品定位与核心价值SANKO自动附着试验机的核心定位是：为各类材料提供客观、精确、可重复的附着力定量测量解决方案。它通过标准化的测试方法，取代了传统主观性强的划格法、胶带法等定性测试，广泛应用于以下行...
HITACHI荧光X射线膜厚计FT230核心介绍一、产品定位与核心价值FT230的核心定位是为实现高良率、高效率的半导体生产提供精确、可靠、无损的薄膜厚度与成分测量。它主要服务于芯片制造中的关键工艺层监控，例如：金属互连层：Cu（铜）、Al...
引言：从“测量工具”到“数据基石”的范式转变在传统半导体工厂中，荧光X射线（XRF）膜厚计主要被视作一台高精度的离线检测设备——它的任务是在生产间隙对抽样晶圆进行测量，判断膜厚是否在规格范围内，属于一种“事后诸葛亮”式的质控手段。然而，在智...
在精密制造、设备安装等领域，3轴水平仪凭借X、Y、Z三个维度的同步检测能力，成为实现高精度平面度与角度测量的核心工具。正确掌握其使用方法，是保障测量数据可靠性的关键，具体可分为以下四个核心步骤：一、测量前准备：奠定精度基础首先需完成设备校准...
Nordson（诺信）点胶机全面详解一、公司概览与品牌架构NordsonCorporation是一家美国公司，通过一系列战略收购，整合了该领域多个顶尖品牌，形成了强大而全面的产品矩阵。理解其品牌架构是理解诺信点胶机的关键：NordsonAS...
DENSOKU电解式膜厚计GCT-311详细介绍一、产品概述DENSOKUGCT-311是一款基于阳极溶解库仑法的台式电解式膜厚计。它设计用于快速、精准地测量各种金属基材（如钢铁、铜合金、锌合金等）上的阳极性镀层（如金、银、锡、铬、锌、镉等...
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