热门关键词： SM-100S / SM-100P大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪 SM-100S / SM-100P大塚SM-100光学干涉法无损薄膜厚度测量仪 SM-100S StandardYamato Scientific 膜厚计 涂层厚度检测仪 Otsuka Yamato智能膜厚计SM-100P Pro测厚仪 proceq / PM8500Profometer建筑腐蚀电位结构调查钢筋锈蚀仪 PM8000 Proproceq建筑混凝土保护层钢筋直径方面测量仪 PM8000 Proproceq建筑钢筋定位保护层厚度检测仪 PM8000 ProScreeningEagle桥梁隧道水泥建筑安全检测仪 PM8000 Pro瑞士Proceq新建建筑钢筋保护层质量控制仪 PM8000 ProProfometer 建筑工程混凝土保护层测定仪 SCREEN VM-1020显微镜式光学干涉膜厚测量仪 VM-1020SCREEN OLED/液晶/半导体晶圆检测用干涉仪 VM-1020SCREEN 光干涉膜厚仪 2-12寸晶圆通用 KRM 311日本关西电子 Survey meter 表面污染测量仪 No.351-B / No.22100藤原FUJIWARA 山中式土壤硬度计 土壤测定仪 TI300 / TI-900SE日本MCT TI-100/TI200高速振動試料粉砕機

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大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪

  • 产品型号：SM-100S / SM-100P
  • 更新时间：2026-06-10

简要描述：大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪SM-100S / SM-100P，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。

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品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域综合
日本大塚电子（Otsuka Electronics）的便携式薄膜厚度测量仪——Smart Thickness Gauge SM-100 series。这是一款专为解决传统膜厚测量痛点而设计的高精度、手持式设备。

大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪


产品核心亮点


这款智能膜厚计旨在解决“无法在生产现场即时测量"、“测量结果因人而异"以及“精度不佳"等常见问题。其主要特点如下：

  • 便携易用：整机重量仅 1.1公斤，轻巧便携。内置电池和触摸屏，无需连接外部电脑，开机即用，操作直观，无需专业培训。

  • 高精度测量：采用分光干涉法，即使作为手持设备，也能实现 0.1微米 级别的高精度测量，且无需为每种材料制作校准曲线。

  • 非接触与非破坏性：测量过程不会对样品造成任何损伤，适用于各种脆弱或昂贵的薄膜材料。

  • 适应性强：不仅能测量平面，通过更换不同探头，还可以测量有形状、不规则的样品，甚至可以测量生产线上的大型固定样品，无需切割取样。


主要规格


以下是该系列产品的主要型号规格对比：
项目Pro (专业版)Standard (标准版)
测量范围0.1 ～ 200 μm1 ～ 200 μm
测量精度±0.01 μm (10μm以下时)±0.1 μm (10μm以下时)
光源白色LED白色LED
显示/操作内置触摸屏内置触摸屏
电源内置可充电电池内置可充电电池
注：测量范围和精度会因样品材料的折射率等因素而有所变化。


测量对象与应用场景


这款设备的应用范围非常广泛，主要包括：

  • 光学薄膜：如反射防止膜、硬涂层等。

  • 半导体：如氧化膜、光刻胶（Resist）膜等。

  • 各类功能薄膜：包括食品包装膜、医疗用膜、建材用膜等。


场景举例


  • 生产现场：可以直接拿到生产线，对正在加工的产品进行实时抽检。

  • 大型样品：对于无法移动或切割的大型卷材、建材等，可以直接在现场进行测量。

  • 研发实验室：快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。


可选配件


为了适应更多测量需求，该产品还提供多种可选探头：

  • 标准探头：适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等。

  • 笔式探头 (Pen-type Probe)：适用于狭窄空间或有复杂形状的样品。

  • 非接触式测量台 (Non-contact Stage)：适用于不能接触的样品，如湿膜、半导体晶圆（Wafer）等，可自由设定探头位置进行非接触测量。



大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪SM-100S / SM-100P，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。

大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪SM-100S / SM-100P，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。




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