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产品分类大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪SM-100S / SM-100P,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间:2026-06-10大塚SM-100光学干涉法无损薄膜厚度测量仪SM-100S / SM-100P,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间:2026-06-10Yamato Scientific 膜厚计 涂层厚度检测仪SM-100S Standard,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间:2026-06-10Otsuka Yamato智能膜厚计SM-100P Pro测厚仪,适用于平整表面的样品,如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间:2026-06-10英国Elcometer 331混凝土保护层厚度测量仪 331² 系列 / 331-2-B,用于建筑结构维护前的检查,防止钻孔时损坏钢筋、管道或预应力筋,避免结构损伤。
更新时间:2026-06-25美国filmetrics 薄膜测量仪 光学膜厚仪美国filmetrics 薄膜测量仪F10-AR-UV 轻松且经济地测量减反射涂层和硬质涂层 F10-AR 是首的款专为简单、经济实惠的眼科抗反射 (AR) 涂层测量而设计的仪器。 AR 涂层测量仪器的成本只是当今使用的大多数仪器的一小部分,它包含多项专有的优良技术,使生产线操作员只需经过几分钟的培训,即可在几秒钟内获得结论性的读数。
更新时间:2026-06-24