日本otsukael 显微分光膜厚仪

产品型号：OPTM系列
更新时间：2024-07-12

简要描述：日本otsukael 显微分光膜厚仪OPTM系列
OPTM 是一种通过使用显微镜光谱测量微小区域的绝对反射率来实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。
各种薄膜、晶圆、光学材料等镀膜、多层膜厚度的无损、非接触测量。可以进行1秒/点的高速测量。此外，它配备了软件，即使是初次使用的用户也可以轻松分析光学常数。

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产品详情

品牌	其他品牌	产地类别	国产
应用领域	环保,化工,能源,电子,综合

日本otsukael 显微分光膜厚仪OPTM系列

日本otsukael 显微分光膜厚仪OPTM系列的介绍

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OPTM 是一种通过使用显微镜光谱测量微小区域的绝对反射率来实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。
各种薄膜、晶圆、光学材料等镀膜、多层膜厚度的无损、非接触测量。可以进行1秒/点的高速测量。此外，它配备了软件，即使是初次使用的用户也可以轻松分析光学常数。
膜厚测量所需的功能集成在测量头中
使用显微光谱法进行高精度绝对反射率测量（多层膜厚度、光学常数）
每点1秒以内的高速测量
实现显微镜下宽测量波长范围（紫外到近红外）的光学系统
区域传感器安全机制
一个简单的分析向导，即使是初次使用的用户也可以进行光学常数分析
配备可自定义测量顺序的宏功能
也可以分析复杂的光学常数（多点分析法）
300mm载物台兼容
支持各种自定义

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