产品中心/ products

您的位置:首页  -  产品中心  -  仪器  -  日本  -  SF-3日本otsukael光谱干涉式晶圆测厚仪

日本otsukael光谱干涉式晶圆测厚仪

  • 产品型号:SF-3
  • 更新时间:2023-05-22

简要描述:日本otsukael光谱干涉式晶圆测厚仪SF-3
通过光学方法可以进行非接触式和非破坏性的厚度测量。
实现高测量再现性
可实时高速监控抛光
实现了长 WD(工作距离)并且易于集成到设备中
从主机设备使用 LAN 通过 TCP/IP 通信进行控制
可以进行多层厚度测量
可测量临时晶圆(临时键合晶圆)各层厚度

产品详情
品牌其他品牌价格区间20万-50万
产地类别国产应用领域环保,化工,能源,电子,综合

日本otsukael光谱干涉式晶圆测厚仪SF-3

日本otsukael光谱干涉式晶圆测厚仪SF-3的介绍

深圳九州工业品有限公司成立于2016年,坐落于年轻奋进的深圳市,是一家工业品综合服务商。主要包括机电设备、电子产品、仪器仪表、工业器材的销售及其它国内贸易、经营进出口等业务。联合国际名品牌搭建工业品供应链,采用与 MRO分销商结盟的方式,把零散采购订单集中处理,流程简化,提供一站式供应服务。在美国、德国、日本、韩国、中国台湾建立采购中心,以流的专业国际采购团队、技术顾问、销售团队为各种领域提供各类高品质的工业产品和优质的整合服务。通过与厂家建立快捷、有效的沟通,和众多国外生产厂家建立了长久合作伙伴关系。

  • 通过光学方法可以进行非接触式和非破坏性的厚度测量。

  • 实现高测量再现性

  • 可实时高速监控抛光

  • 实现了长 WD(工作距离)并且易于集成到设备中

  • 从主机设备使用 LAN 通过 TCP/IP 通信进行控制

  • 可以进行多层厚度测量

  • 可测量临时晶圆(临时键合晶圆)各层厚度

  • 实现显微镜下宽测量波长范围(紫外到近红外)的光学系统

  • 区域传感器安全机制

  • 一个简单的分析向导,即使是初次使用的用户也可以进行光学常数分析

  • 配备可自定义测量顺序的宏功能

  • 也可以分析复杂的光学常数(多点分析法)

  • 300mm载物台兼容

  • 支持各种自定义



在线咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
公司简介  >  在线留言  >  联系我们  >  
产品中心
仪器

CONTACT

EMAIL:825943229@qq.com
扫码微信联系
版权所有©2024 深圳九州工业品有限公司 All Rights Reserved   备案号:粤ICP备2023038974号   sitemap.xml技术支持:化工仪器网   管理登陆