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大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪SM-100S / SM-100P，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间：2026-06-10 大塚SM-100光学干涉法无损薄膜厚度测量仪SM-100S / SM-100P，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间：2026-06-10 Yamato Scientific 膜厚计 涂层厚度检测仪SM-100S Standard，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间：2026-06-10 Otsuka Yamato智能膜厚计SM-100P Pro测厚仪，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间：2026-06-10
英国Elcometer 331混凝土保护层厚度测量仪 331² 系列 / 331-2-B，用于建筑结构维护前的检查，防止钻孔时损坏钢筋、管道或预应力筋，避免结构损伤。
更新时间：2026-06-25
日本 kett 涡流膜厚仪其它专用仪器LH-373 1.测量非磁性金属上的绝缘膜厚度 2.中型涡流膜厚仪 3.测量范围0~1200μm 4.数据内存39000点，统计计算功能
更新时间：2024-08-20
日本 kett 电磁膜厚计其它专用仪器LE-373 1.测量磁性材料上非磁性涂层的厚度 2.中型电磁膜厚仪 3.测量范围0~2500μm 4.数据内存39000点，统计计算功能
更新时间：2024-08-20
日本sanko 涡流膜厚计 其它专用仪器用SWT-NEO-N$n特征$n1.宽测量范围：0 至 2.0mm$n2.通过调零和标准调整可立即进行测量
更新时间：2025-06-17
日本sanko 多功能电磁膜厚仪 其它专用仪器CTR-2000V 特征 1.使用日语按键轻松操作 2.20,000点大内存 3.校准曲线（基材特性） 10种注册类型 4.0至2,000μm范围，适用于从油漆到衬里的广泛应用 5.区块名称注册 6.内置打印机，具有统计功能 7.带背光的大液晶显示屏 8.新型1点恒压探头
更新时间：2024-08-16
日本sanko 电磁膜厚仪 其它专用仪器SWT-NEO-F 特征 1.宽测量范围：0 至 2.5mm 2.通过调零和标准调整可立即进行测量
更新时间：2024-08-16
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