咨询电话
13691609757
products
产品分类
日本toyo-medic电磁涂膜测厚仪Surfix系列 丰富的替换探头 支持测量厚度达 200 μm 的薄层（*使用 FN0.2 探头时） 特殊用途探头，如耐酸探头、角探头、管/槽探头等。 高温脚支持高达 300°C 的测量 单值和统计值的显示
更新时间：2024-07-13
日本toyo-medic双联型涂膜测厚仪Surfix系列 丰富的替换探头 支持测量厚度达 200 μm 的薄层（*使用 FN0.2 探头时） 特殊用途探头，如耐酸探头、角探头、管/槽探头等。 高温脚支持高达 300°C 的测量 单值和统计值的显示
更新时间：2024-07-13
日本otsukael 显微分光膜厚仪OPTM系列 OPTM 是一种通过使用显微镜光谱测量微小区域的绝对反射率来实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。 各种薄膜、晶圆、光学材料等镀膜、多层膜厚度的无损、非接触测量。可以进行1秒/点的高速测量。此外，它配备了软件，即使是初次使用的用户也可以轻松分析光学常数。
更新时间：2024-07-12
Luna在线传感器头TeraMetrix T-Gauge 测厚 HXC50yn，该传感器用于工业在线测量厚度、克重及多层结构，适用于 roofing、航空航天、薄膜涂布等行业的无损检测与过程控制。
更新时间：2026-06-15
photonic-lattice厚度/折射率分布椭偏仪SE 系列 这是一款高速映射椭圆仪，可以测量 φ8″ 晶圆的整个表面（最大⌀300 mm 是可选的），可以高速和高密度测量 1 nm 或更小的膜厚度变化。它 支持各种膜厚分布测量。
更新时间：2024-07-11
photonic-lattice厚度/折射率测量椭偏仪 ME 系列 这是一款高速映射椭圆仪，可以测量 φ8″ 晶圆的整个表面（最大⌀300 mm 是可选的），可以高速和高密度测量 1 nm 或更小的膜厚度变化。它 支持各种膜厚分布测量。
更新时间：2024-07-11
日本sasaki-koki非接触式测厚仪OZUMA CL 应用 半导体晶圆（各种材质）硅、Si.GaAs、砷化镓、金属、化合物等高精度非接触式厚度测量（非接触式厚度测量） 特点 1.激光方法允许非接触式厚度测量（非接触式厚度测量）并且不会造成划痕或污染等损坏 2。可实现高精度非接触式厚度测量（非接触式厚度测量） 3.可重复测量厚度、翘曲度、平行度等。
更新时间：2024-10-12
日本 jfe膜厚分布测量装置FDC-H1510 特征 1.能够测量6英寸晶圆的整个表面 2.能够以高分辨率（约5μm）测量整个样品表面和局部厚度 3.紧凑的设计，可安装在桌面上 4.基于高分辨率的局部测量 由于可以6um的高分辨率测量约3mm角，因此适用于需要局部测量的器件图案上等膜厚分布测量。 5.最大6英寸的全面测量
更新时间：2024-08-29
日本 jfe膜厚分布测量装置 S系列标准型号 特征 1.2分钟内100万至400万点的高速测量和膜厚计算 2.可应用于多种应用，产品阵容丰富 3.适用于从研发到缺陷检查 主要用途 薄膜模型：SiO2膜、溅射膜、抗蚀剂、液膜、油膜、涂膜 厚膜模型：各种晶圆、PET薄膜、其他薄膜、玻璃等。 超厚膜模型：各种晶圆、块状晶圆、薄膜、玻璃等。
更新时间：2024-08-29
您的位置：
在线咨询
返回顶部