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TWIN NINES TN‑A1 纳米表面粗糙度・形状测量仪 Nano‑Seven TN‑A1 纳米表面粗糙度形状测量仪采用光外差干涉非接触检测，0.1nm 分辨率，可检测粗糙度、形貌、台阶段差与划痕。测量速度快无需防震台，适配硅晶圆、钽酸锂基板，用于半导体、光学元器件、精密加工领域，兼顾实验室研发与产线产品表面质量全检管控。
更新时间：2026-08-20 晶圆粗糙度无损检测 半导体CMP后表面评估 该产品主要用于亚纳米级表面粗糙度、台阶高度及三维形貌的非接触式精密测量。广泛适用于半导体晶圆检测、光学器件加工及精密机械制造等行业，能高效替代传统AFM实现全数检查，显著提升良品率与生产效率。
更新时间：2026-08-20
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