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解锁高周波化难题:iwatsu B-H磁芯损耗分析仪如何应对核心损耗发热挑战

更新时间:2026-06-02      浏览次数:14
在电子设备加速迈向高频化与小型化的进程中,软磁性材料的性能优劣直接决定了产品的能效与稳定性。然而,高频化带来的磁芯损耗(Core Loss)激增与发热问题,一直是困扰工程师的研发瓶颈。岩崎通信机(IWATSU)作为磁性材料测量领域的先的行的者,凭借其先进的B-H分析仪技术,为这一行业难题提供了精准、高效的解决方案。

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📉 高频化带来的挑战:看不见的“能耗黑洞"


随着智能手机、电动汽车及工业电子设备对效率要求的极的致的追求,开关电源与DC-DC转换器的开关频率不断提升。然而,频率的提升往往伴随着磁性元件(如变压器、电感)损耗的急剧增加。这种被称为“核心损耗"的能量,主要由磁滞损耗和涡流损耗构成,不仅降低了系统效率,更会因发热导致磁性材料特性退化,甚至引发设备故障。因此,精准测量高频下的核心损耗,成为优化材料配方与器件设计的关键前提。


🛠️ 技术革新:重新定义高频测量的精度与便捷性


岩崎通信机深刻洞察行业需求,通过重新审视测量算法,成功突破了高频测量的技术壁垒。其核心产品B-H分析仪,特别是全新推出的SY-8264型号,将交流磁性测量的频率上限拓展至30MHz。这一突破性进展,意味着工程师不再需要依赖复杂且专业门槛极的高的共振法或电感补偿法,即可轻松实现对高频核心损耗的精确评估。该设备覆盖10Hz至30MHz的超宽频带,能够满足从传统工频到射频领域各类软磁材料的研发与质检需求,让高频损耗“看得见、测得准"。


🤖 全自动测量:从参数设置到数据生成的无缝体验


岩崎通信机的B-H分析仪致力于简化测量流程,提升研发效率。用户仅需在软件中输入试样的基本参数(如有效磁路长度、有效截面积、线圈匝数)及测量条件(频率、磁场强度等),仪器即可自动完成B-H曲线的扫描与各类磁参数的计算。无论是铁氧体、坡莫合金、非晶态材料,还是硅钢片与粉末材料,无论是环形、EE/EI型铁芯,还是板材与粉末样品,该分析仪均能提供稳定可靠的全自动测量支持。这种高度的自动化不仅减少了人为操作误差,更让非专业测量人员也能轻松上手,专注于数据分析与产品创新。


🌡️ 构建完整解决方案:覆盖多维度的测试需求


为了应对更复杂的实际应用场景,岩崎通信机提供了一系列丰富的选件与配套设备,构建起一套完整的磁性材料测试生态系统。针对车载电子等对温度稳定性要求严苛的领域,可配备符合AEC-Q200 Grade 0标准的恒温槽扫描系统,实现-55ºC至+180ºC温度范围内的自动测量。此外,还有支持最大30A直流偏置叠加的测试仪、适用于小片单板试样的专用夹具等,全的方的位满足材料在不同偏置电流、不同温度环境下的特性评估需求。通过远程控制软件SY-810,所有外部设备均可与主机无缝联动,实现全自动化测试流程。


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