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A-POS自动比重计 高分子材料固液两用密度仪 搭载 GH-120 高精度天平，可完成固体比重、膨润前、膨润后、膨浸一体化测试，自动计算重量与体积变化率，设备出厂带全套动作确认点检，适用于烧结金属、陶瓷、土木土质、橡塑等材料的 JIS 物性检验。
更新时间：2026-10-15
A-POS自动比重计 橡胶塑料新材料密度测试仪 搭载 GH-120 高精度天平，可完成固体比重、膨润前、膨润后、膨浸一体化测试，自动计算重量与体积变化率，设备出厂带全套动作确认点检，适用于烧结金属、陶瓷、土木土质、橡塑等材料的 JIS 物性检验。
更新时间：2026-10-15
A-POS 比重计 玻璃陶瓷成分配比密度检测仪搭载 GH-120 高精度天平，可完成固体比重、膨润前、膨润后、膨浸一体化测试，自动计算重量与体积变化率，设备出厂带全套动作确认点检，适用于烧结金属、陶瓷、土木土质、橡塑等材料的 JIS 物性检验。
更新时间：2026-10-15
日本A-POS 自动比重计 JIS 标准密度测试 搭载 GH-120 高精度天平，可完成固体比重、膨润前、膨润后、膨浸一体化测试，自动计算重量与体积变化率，设备出厂带全套动作确认点检，适用于烧结金属、陶瓷、土木土质、橡塑等材料的 JIS 物性检验。
更新时间：2026-10-15
日本A-POS MST 阿基米德自动比重计 SP-GR1 搭载 GH-120 高精度天平，可完成固体比重、膨润前、膨润后、膨浸一体化测试，自动计算重量与体积变化率，设备出厂带全套动作确认点检，适用于烧结金属、陶瓷、土木土质、橡塑等材料的 JIS 物性检验。
更新时间：2026-10-15
SEL 晶圆裂纹检测仪 SEL-WCIS，昭和电气研究所的晶圆检测设备专题页，主要用途是展示其利用光学与传感器技术融合的四大核心检测产品。适用行业为半导体制造，专门用于硅（Si）、碳化硅（SiC）等晶圆在生产过程中的裂纹、边缘缺陷、表面划痕及形状精度的自动化检测与质量控制
更新时间：2026-07-10
大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜测厚仪SM-100S / SM-100P，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间：2026-06-10 大塚SM-100光学干涉法无损薄膜厚度测量仪SM-100S / SM-100P，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间：2026-06-10 Yamato Scientific 膜厚计 涂层厚度检测仪SM-100S Standard，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间：2026-06-10 Otsuka Yamato智能膜厚计SM-100P Pro测厚仪，适用于平整表面的样品，如薄膜、玻璃等快速验证不同工艺参数下的薄膜厚度。
更新时间：2026-06-10
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