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还在为涂层不均漏检发愁?CCS LDF-NB系列干涉条纹检测光源轻松搞定

更新时间:2026-08-14      浏览次数:24

在精密制造的质检环节里,薄膜、涂层的微小不均缺陷一直是行业公的认的检测难题:传统白色LED光源无法生成有效干涉条纹,难以将细微的涂布差异可视化;老旧的三波长荧光灯、钠灯不仅设备老化维护麻烦,成像清晰度也早已跟不上当下的高精度质检要求,很容易出现涂层不均漏检,直接拉低最终产品良率。而CCS推出的LDF-NB系列干涉条纹检测光源,正是为解决这类痛点量身打造的专用工业检测设备。

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核心技术优势

这款光源依托CCS独的家的LT尖的端的成像技术,针对性解决了传统LD激光光源的固有缺陷:

  • 低噪成像‌:通过特殊光学设计大幅降低激光斑点噪声,彻的底的避免图像闪烁干扰检测判断,成像画面稳定清晰。

  • 无缝替代‌:可直接替换产线原有老旧的三波长荧光灯、钠灯,无需大幅改造现有设备,快速完成产线升级。

  • 多色适配‌:提供红、绿、蓝、RGB全彩共4种发光颜色,可根据不同材质的检测需求灵活选型。


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多场景质检赋能

它的应用覆盖了多个精密制造核心质检环节:

  1. 薄膜涂层检测:可清晰识别各类光学薄膜表面涂层的有无、厚薄不均缺陷,解决普通光源下缺陷完的全的不可见的问题。

  2. 玻璃贴合检测:针对盖板玻璃贴合工艺,能将贴合缝隙不均、局部虚贴的位置通过干涉条纹直观呈现,大幅降低漏检率。

  3. 晶圆涂布检测‌:适配半导体晶圆表面光刻胶等涂布层的质检需求,精准捕捉微米级的涂布不均瑕疵。


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无论是人工目视抽检,还是接入工业相机搭建自动化在线质检工位,这款光源都能稳定输出符合要求的干涉条纹成像效果,帮助产线快速补齐涂层类缺陷的检测短板,从根源上减少因漏检带来的返工、客诉损失。





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