日本SENA检查灯的型号及详细介绍:
型号及介绍
1. 185LE
2. 185LE-AL
3. 185FI
4. 370TFI/R
5. 100LE
应用场景
半导体晶圆检测:用于检测晶圆表面的微小缺陷,如划痕、微粒、涂层不均等。
液晶面板检测:用于检测TFT面板、彩色滤光片、触摸屏等的表面杂质与微裂纹。
玻璃基板检测:用于检测玻璃基板表面的杂质、微裂纹等。
材料分析:用于检测金属涂层均匀性、塑料部件注塑缺陷等。
这些型号的检查灯均具备高照度、可调节照度、强制空冷等特性,能够满足不同工业检测场景的需求。