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更新时间：2025-12-15 
浏览次数：45在电子元件包装领域，剥离强度是衡量载带性能的关键指标，直接影响元件的存储和运输可靠性。日本EPI株式会社凭借多年技术积累，开发出一系列剥离强度检测设备，包括基础型、高速型及静电检测型，覆盖从常规检测到高的端模拟测试的多样化需求。
稳定性能：采用独特剥離機構，确保剥离角度恒定，提升数据重现性；支持120-300mm/min速度调节，符合JIS标准。
智能分析：内置液晶触控屏，可轻松设置测试条件；自动统计最的大的值、最小值、平均值、标准差及CPK值，简化批次管理。
便捷操作：支持日/英/中多语言界面，单位可在gf/N间自由切换；USB数据导出功能，便于PC端深度分析。
高速性能：送带速度最的高的达15m/min，支持连续动作与步进送带双模式，精准复现贴片机工作状态。
深度分析：模拟输出接口支持数据实时采集，结合变速功能（120mm-15m/min），兼顾JIS标准与定制化需求。
综合能力：在保持15m/min高速性能的同时，集成静电传感器，支持步进送带模式，满足高的端的电子元件的品控要求。
灵活适配：延续EPI设备的定制化传统，可根据客户特殊需求调整参数，适配不同生产环境。
定制化能力：所有设备支持按需开发，适配特定测试场景。
数据完整性：内置完整数据管理系统，符合工业品控追溯要求。
国际兼容性：多语言界面与JIS标准认证，支持全的球的化部署。
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