如何快速、无损地检测绝缘体上的金属镀层？電測RST-231电阻式膜厚计试试

更新时间：2026-08-11

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株式会社電測（Densoku Instruments）推出的RST-231型电阻式膜厚计，是一款专为快速、高精度测量绝缘基材上金属薄膜而设计的设备。它尤其适用于印刷电路板（PCB）的铜箔及电镀层厚度检测，能够在短短0.7秒内完成一次测量，是提升生产线质量控制效率的理想选择。

核心优势：高速与精准

RST-231最大的亮点在于其卓的越的测量速度和精度。它采用四探针电阻法作为测量原理，这种方法能够有效排除接触电阻的影响，确保数据的准确性。

极速测量：单次测量仅需0.7秒，非常适合在线快速检测，大幅提升生产效率。
抗干扰能力强：测量时不受基板背面或内部其他金属层的影响，因此无论是单面板、双面板还是复杂的多层板，都能获得可靠的测量结果。
宽量程选择：设备提供两种测量范围（2-24μm 和 10-120μm），覆盖了从薄铜箔到较厚电镀层的大部分应用场景。

智能操作与数据分析

RST-231通过连接电脑进行操作，带来了更直观、更强的大的用户体验。

可视化操作界面：依托电脑显示器，用户可以获得更大、更清晰的显示效果，操作界面友好，校准和测量过程都十分简便。
强的大的数据管理：

多通道管理：支持多达40个通道的注册，用户可以为不同的产品型号、部件编号或客户名称设置独立的测量参数，方便分类管理。
海量存储：设备可存储高达100,000条测量数据，满足长时间、大批量的生产记录需求。

丰富的统计功能：测量完成后，系统可立即生成多种统计图表，包括直方图、数据分布图、X-R管理图等，并能计算最大值、最小值、平均值和标准偏差，帮助质量管理人员快速分析制程能力。
异常值警报：用户可以预先设定膜厚的上下限值，一旦测量数据超出范围，系统会立即发出通知，实现实时质量监控。

产品规格一览

项目	规格
型号	RST-231
测量原理	四探针电阻法
测量范围	2-24μm / 10-120μm
测量时间	0.7秒
数据容量	100,000条
通道数量	40个
电源	AC 100-240V, 50/60Hz
尺寸 (主机)	280(W) × 230(D) × 88(H) mm
重量 (主机)	3.0 kg
标准附件	四探针探头 (KD-110)、标准片 (TCU-145)

此外，RST-231还提供多种不同规格的探头（如KD-105, KD-120, KD-210等）以适应不同的测量需求。

应用实例

该设备已在多个领域的企业中得到应用，例如：

山形县O公司：用于印刷线路板、电子装置及电子部件的生产。
神奈川县T公司：用于照明、电气设备安装材料部件以及NF/NC部件的质量检测。

总而言之，株式会社電測的RST-231电阻式膜厚计凭借其0.7秒的超快测量速度、不受多层结构干扰的精准性以及强的大的电脑端数据分析功能，成为PCB制造及相关行业中进行金属薄膜厚度质量控制的可靠工具。

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