ANALYZER 安奈测 3 Φ6 光学扫描内径缺陷检查装置介绍

更新时间：2026-11-03

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一、产品概述

精密内孔工件内壁缺陷检测，是量产质检中的一大难题。传统人工目检效率低、判定主观，容易发生漏检、误判，很难满足自动化产线稳定质控要求。ANALYZER 安奈测 3 Φ6（SG-LSDC-6-203-15K-STD）是标准化光学扫描内径缺陷检测设备，专为 Φ7mm~Φ30mm 孔径工件开发，适配大批量产线集成使用。

二、检测原理与核心参数

检测方式：光学扫描式
光源：640nm 红色半导体激光器，最大功率 40mW，激光等级 3B
检出方式：直射光采集
旋转转速：15000rpm
有效测量长度：200mm
最小检出尺寸：0.2mm
检测速度：测量长度 100mm、分辨率 0.1mm 时，单次检测约 4 秒
采样频率：约 2400kHz
供电：100~200V

三、能解决的质检痛点

全自动检测运行，减少人工投入，降低质检成本
数字化判定标准，消除人为主观差异，品质输出稳定统一
量化判定阈值，避免严苛检验造成良品误报废
检测节拍快，缩短质检耗时，保障产线连续高效生产

四、适用场景与行业

设备结构坚固耐用，支持在线集成到自动化产线，可识别内孔毛刺、划伤、凹坑等内壁缺陷。主要用于：汽车零部件、精密液压阀件、精密五金件、机械加工工件等精密内孔产品的品质筛查。

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