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产品分类技术文章/ article
半导体工艺腔体、部分制桶自动化表面处理工序中,会接触腐蚀性工艺气体,普通真空计容易出现灯丝损耗、馈通失效、测量漂移等故障。很多设备工程师会产生疑问:英福康PSG...
工业视觉检测领域,金属零件的高反光特性与电路板的复杂结构常常导致成像失败——强光反射掩盖细节,阴影遮挡关键区域,传统单色光源难以兼顾对比度与均匀性。Leimac推出的IMAR-RGB与IDDA-KH-RGB系列全彩RGB照明系统,通过智能配...
在机器视觉检测中,为了突出特定颜色的缺陷或特征,工程师们常常需要更换不同颜色的光源或加装物理滤光片。这个过程不仅耗时,也增加了系统复杂性和成本。现在,Leimac推出的IMAR-RGB和IDDA-KH-RGB系列全彩光源,提供了一种更智能、...
在半导体制造与检测领域,对硅晶圆(Siウェハ)进行内部检查或背面图案观察是一项极的具的挑战性的任务。由于硅材料对可见光不透明,传统的光源难以穿透晶圆,导致无法实现有效的非破坏性检测。清和光学製作所(SeiwaOptical)推出的近红外卤素...
清和光学製作所推出的金属卤化物级LED光源(SLBX-80H、SLBX-125H、SLBX-150H),在实现与金属卤化物光源相媲美的高亮度的同时,大幅降低了运行成本。产品系列与主要规格该系列产品提供三种型号,可根据具体用途和安装环境进行选...
在半导体制造的精密检测环节,光源的选择至关重要。它直接关系到缺陷检测的精度、生产良率以及整体效率。面对多样化的检测需求,如何找到一种既能模拟传统光源光谱,又具备LED长寿命、高稳定性优势的光源方案,是许多工程师面临的挑战。AitecSyst...
针对半导体晶圆保护膜与划片胶带的高效固化,AitecSystem的MUVBA系列晶圆UV照射器提供了一个兼具紧凑性与成本效益的解决方案。该设备专为半导体制造的后道工序设计,例如背面对准时的晶圆保护膜固化、划片后的UV固化型划片胶带固化等,同...
在半导体制造的后道工序中,晶圆切割(Dicing)前的UV固化是一个至关重要的环节。固化效果直接影响后续工艺的稳定性和良品率。今天,我们来深入了解一款来自日本爱特克系统(AITECSYSTEM)的紧凑型、低成本UV-LED晶圆固化装置——M...
在精密制造领域,产品的外观质量是决定其最终品质的关键环节。无论是汽车钢板、电子玻璃还是精密金属部件,任何微小的划痕、凹痕或变形都可能导致产品不合格。如何高效、精准地发现这些细微缺陷,是众多制造企业面临的共同挑战。今天,我们为您介绍来自日本A...
在半导体与精密光学制造领域,任何微小的表面缺陷都可能导致产品良率的大幅下降。因此,一套稳定、高亮度的目视检测光源是生产线上的“火眼金睛”。今天,我们就来实测一下AITEC的明星产品——PowerEyeIS系列中的LSP68x240W-ST高...
在制药、涂料、能源存储等高度依赖配方研发的行业,颗粒的表面特性、分散行为以及组分间的相互作用,往往是决定产品最终性能的关键。然而,传统分析手段常常面临一个困境:为了获取数据,不得不破坏样品本身,或者在复杂的测试流程中引入诸多不确定因素,让研...